[发明专利]离子传导体的制造方法有效
申请号: | 201780006992.0 | 申请日: | 2017-01-13 |
公开(公告)号: | CN108475565B | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | 岛田昌宏;伊藤智裕;香取亚希;宇根本笃;折茂慎一 | 申请(专利权)人: | 三菱瓦斯化学株式会社;东北泰克诺亚奇股份有限公司 |
主分类号: | H01B13/00 | 分类号: | H01B13/00;H01B1/06;H01M10/0562 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 离子 传导 制造 方法 | ||
1.一种离子传导体的制造方法,其特征在于,包括:
使用溶剂将LiBH4和下述式(1)所示的卤化锂混合的步骤;和在60℃~280℃将所述溶剂除去的步骤,
LiX (1)
式(1)中,X表示选自卤素原子中的1种。
2.如权利要求1所述的离子传导体的制造方法,其特征在于:
所述离子传导体在CuKα:的X射线衍射中,至少在2θ=23.9±1.2deg、25.6±1.5deg、27.3±1.5deg、35.4±2.0deg和42.2±2.0deg具有衍射峰。
3.如权利要求1或2所述的离子传导体的制造方法,其特征在于:
所述溶剂为醚系溶剂。
4.如权利要求3所述的离子传导体的制造方法,其特征在于:
所述醚系溶剂选自四氢呋喃、2-甲基四氢呋喃和环戊基甲基醚。
5.如权利要求1或2所述的离子传导体的制造方法,其特征在于:
卤化锂的水的含量为50ppm以上且小于70000ppm。
6.如权利要求1或2所述的离子传导体的制造方法,其特征在于:
卤化锂的水的含量为50~26000ppm。
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