[发明专利]铸造砂的砂污染度评价方法以及砂污染度评价装置在审

专利信息
申请号: 201780008777.4 申请日: 2017-01-27
公开(公告)号: CN108603854A 公开(公告)日: 2018-09-28
发明(设计)人: 青木之典 申请(专利权)人: 新东工业株式会社
主分类号: G01N27/04 分类号: G01N27/04
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李洋;青炜
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 铸造砂 导电率 污染度评价 基准样品 污染度 加湿处理
【权利要求书】:

1.一种铸造砂的砂污染度评价方法,是对铸造砂的导电率进行测定由此对铸造砂的砂污染度进行评价的方法,

其特征在于,具有:

准备上述铸造砂的基准样品和比较样品的工序;

在对上述基准样品和上述比较样品进行了加湿处理后,对上述基准样品和上述比较样品的上述导电率进行测定的工序;以及

基于该测定出的上述基准样品和上述比较样品的上述导电率来对上述砂污染度进行评价的工序。

2.根据权利要求1所述的铸造砂的砂污染度评价方法,其特征在于,

在对上述基准样品和上述比较样品进行了干燥处理后进行上述加湿处理,然后,对上述基准样品和上述比较样品的上述导电率进行测定。

3.根据权利要求2所述的铸造砂的砂污染度评价方法,其特征在于,

在交替地多次重复上述干燥处理以及上述加湿处理后,对上述基准样品和上述比较样品的上述导电率进行测定。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的铸造砂的砂污染度评价方法,其特征在于,还具有:

对上述基准样品和上述比较样品的温度进行测定的工序。

5.根据权利要求4所述的铸造砂的砂污染度评价方法,其特征在于,还具有:

计算上述基准样品和上述比较样品的温度差的工序;以及

对上述测定出的上述基准样品和上述比较样品的上述导电率加减与该温度差相当的导电率从而修正该测定出的导电率的工序。

6.根据权利要求1~3中任一项所述的铸造砂的砂污染度评价方法,其特征在于,

将上述评价出的砂污染度的评价数据提供给用于控制铸造砂再生装置的辊的加压力的基准用。

7.根据权利要求1~3中任一项所述的铸造砂的砂污染度评价方法,其特征在于,

使用多个上述基准样品。

8.一种铸造砂的砂污染度评价装置,是对铸造砂的导电率进行测定由此对该铸造砂的砂污染度进行评价的装置,

其特征在于,具备:

基准样品容器,其收纳上述铸造砂的基准样品;

基准样品导电率测定机构,其对收纳到该基准样品容器的上述基准样品的上述导电率进行测定;

基准样品加湿机构,其使收纳到上述基准样品容器的上述基准样品加湿;

比较样品容器,其收纳上述铸造砂的比较样品;

比较样品导电率测定机构,其对收纳到该比较样品容器的上述比较样品的上述导电率进行测定;以及

比较样品加湿机构,其使收纳到上述比较样品容器的上述比较样品加湿。

9.根据权利要求8记载的铸造砂的砂污染度评价装置,其特征在于,还具备:

基准样品干燥机构,其使收纳到上述基准样品容器的上述基准样品干燥;以及

比较样品干燥机构,其使收纳到上述比较样品容器的上述比较样品干燥。

10.根据权利要求8或者9所述的铸造砂的砂污染度评价装置,其特征在于,还具备:

基准样品温度测定机构,其对收纳到上述基准样品容器的上述基准样品的温度进行测定;以及

比较样品温度测定机构,其对收纳到上述比较样品容器的上述比较样品的温度进行测定。

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