[发明专利]包括提供全局电子快门的图像传感器的图像传感器在审
申请号: | 201780012059.4 | 申请日: | 2017-03-10 |
公开(公告)号: | CN108701728A | 公开(公告)日: | 2018-10-23 |
发明(设计)人: | Z·M·贝利;E·H·萨金特 | 申请(专利权)人: | 因维萨热技术公司 |
主分类号: | H01L31/0264 | 分类号: | H01L31/0264;H01L31/108;H01L27/146 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 宿小猛 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像传感器 电荷提取 电子快门 空穴 空穴提取层 光敏层 全局 集成电路 | ||
1.一种提供全局电子快门的图像传感器,所述图像传感器包括:
集成电路;
第一电荷提取层;
光敏层;和
第二空穴提取层;其中在第一模式(“开启”模式)下,经由所述第一电荷提取层提取电子,并且其中在第二模式(“关闭”模式)下,空穴的提取被所述第一电荷提取层阻止。
2.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述集成电路包括硅。
3.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述第一电荷提取层包含至少一种材料,所述至少一种材料来自包括TiO2、ZnO、Ta2O5、CuO、Cu2O、ZrO2、Nb2O5、HfO2和TiOxNy的材料列表。
4.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述第一电荷提取层通过经由热离子发射为空穴收集提供能垒来阻止空穴的收集。
5.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述第一电荷提取层通过大体上完全耗尽电子以使得所述第一电荷提取层中的光生空穴与电子的复合变慢来阻止空穴的收集。
6.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述第一电荷提取层通过隧穿或陷阱辅助隧穿所述第一电荷提取层来阻止空穴的收集。
7.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述第一电荷提取层能够被图案化为电隔离的像素。
8.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述第一电荷提取层在“开启”时能够为电荷的快速提取器。
9.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述光敏层包含至少一种材料,所述至少一种材料来自包括半导体聚合物、半导体有机小分子、量子点和金属有机钙钛矿半导体的材料列表。
10.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述光敏层具有对于所述第一电荷提取层适当的能带排列,以使在“开启”时实现良好的载流子收集并且在“关闭”时实现差的空穴提取。
11.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述光敏层能够具有较低数量的深陷阱态,使得快速提取电荷。
12.根据权利要求1所述的图像传感器,其中空穴提取层包含至少一种材料,所述至少一种材料来自包括CoO、MoO3、WO3、NiO、ITO、AZO和Spiro-OMeTAD的材料列表。
13.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述集成电路能够控制跨所述光敏层的所述偏压,以使器件叠层从“开启”转向“关闭”。
14.根据权利要求1所述的图像传感器,其中关闭区域能够具有足够宽的电压宽度以包括图像传感器的全动态范围。
15.一种提供全局电子快门的图像传感器,所述图像传感器包括:
集成电路;
第一电极;
第一电荷提取层;
光敏层;以及
第二空穴提取层;其中在第一模式(所述“开启”模式)下,经由所述第一电荷提取层将电子提取到所述第一电极中,并且其中在第二模式(所述“关闭”模式)下,经由第一触点和所述第一电荷提取层之间的能垒阻止电子的注入。
16.根据权利要求15所述的图像传感器,其中所述第一电荷提取层包含至少一种材料,所述至少一种材料来自包括TiO2、ZnO、Ta2O5、CuO、Cu2O、ZrO2、Nb2O5、HfO2和TiOxNy的材料列表。
17.根据权利要求15所述的图像传感器,其中所述第一电荷提取层通过经由热离子发射为空穴收集提供能垒来阻止空穴的收集。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的