[发明专利]光信号发生方法和光信号发生装置有效
申请号: | 201780013606.0 | 申请日: | 2017-02-23 |
公开(公告)号: | CN108700760B | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 菅野敦史;川西哲也 | 申请(专利权)人: | 国立研究开发法人情报通信研究机构 |
主分类号: | G02F1/03 | 分类号: | G02F1/03;H04B10/54 |
代理公司: | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人: | 韩登营;蒋国伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信号 发生 方法 装置 | ||
1.一种施加给光调制器的偏置电压的调整方法,其特征在于,
包括以下工序:
当设所述光调制器的半波电压为VΠ[V]时,比较第1光输出IV11和第2光输出IV12;
采用提供第1光输出IV11和第2光输出IV12中较小一方的光输出的偏置电压来作为基准电压,
其中:所述第1光输出IV11是对所述光调制器施加第1下侧偏置电压V11时的光输出,该第1下侧偏置电压V11是比规定的偏置电压V0小0.001VΠ[V]以上0.1VΠ[V]以下的偏置电压;所述第2光输出IV12是对所述光调制器施加第2上侧偏置电压V12时的光输出,该第2上侧偏置电压V12是比所述规定的偏置电压V0大0.001VΠ[V]以上0.1VΠ[V]以下的偏置电压。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
反复执行以下工序:设所述基准电压为第2规定偏置电压V02,比较对所述光调制器施加下侧偏置电压V21时的光输出和对所述光调制器施加偏置电压V22时的光输出,且将提供较小的光输出的偏置电压作为新的基准电压,
其中:所述下侧偏置电压V21是比偏置电压V02小0.001VΠ[V]以上0.1VΠ[V]以下的偏置电压;所述偏置电压V22是比偏置电压V02大0.001VΠ[V]以上0.1VΠ[V]以下的偏置电压。
3.一种施加给光调制器的偏置电压的调整方法,其特征在于,
包括以下工序:
当设所述光调制器的半波电压为VΠ[V],且设作为所述光调制器的目标的光强度为IT时,求出第1光强度差VD1,该第1光强度差VD1是作为所述目标的光强度IT与第1光输出IV11的差,其中:所述第1光输出IV11是对所述光调制器施加第1下侧偏置电压V11时的光输出,该第1下侧偏置电压V11是比规定的偏置电压V0小0.001VΠ[V]以上0.1VΠ[V]以下的偏置电压;
求出第2光强度差VD2,该第2光强度差VD2是作为所述目标的光强度IT与第2光输出IV12的差,其中:所述第2光输出IV12是对所述光调制器施加第2上侧偏置电压V12时的光输出,该第2上侧偏置电压V12是比所述规定的偏置电压V0大0.001VΠ[V]以上0.1VΠ[V]以下的偏置电压;和
采用提供第1光强度差VD1和第2光强度差VD2中较小一方的光输出的偏置电压作为基准电压。
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