[发明专利]固定床反应器的异常温度检测

权利要求书

1.一种固定床加工系统，其包括：

具有反应器入口和反应器出口的反应器容器；

在反应器容器内的至少一个催化剂颗粒固定床；

在反应器容器内的一个或多个温度传感器结构；

与反应器出口流体连通的检测器，

其中所述一个或多个温度传感器结构包含在阈值温度下经受结构变化的材料，且

其中所述一个或多个温度传感器结构具有在阈值温度以下的温度下将可检测物质引入反应器中的第一引入速率和在阈值温度以上的温度下引入可检测物质的第二引入速率，第二引入速率为第一引入速率的至少约5倍。

2.根据权利要求1的系统，其中一个或多个温度传感器结构包含温度传感器颗粒。

3.根据权利要求1的系统，其中一个或多个温度传感器结构无规则地分布于催化剂床内。

4.根据权利要求3的系统，其中温度传感器颗粒进一步包含催化剂。

5.根据权利要求1的系统，其中一个或多个温度传感器结构包含一种材料，可检测物质直接或间接地由该材料形成。

6.根据权利要求1的系统，其中反应器容器进一步包含具有涂层的内壁，涂层包含一个或多个温度传感器结构中的至少一个。

7.根据权利要求6的系统，其中一个或多个温度传感器结构包含温度传感器颗粒。

8.根据权利要求1的系统，其中检测器包含光谱检测器、辐射检测器、色谱检测器，或者其组合。

9.根据权利要求1的系统，其中一个或多个温度传感器结构至少包含具有第一阈值温度的第一温度传感器结构和具有第二阈值温度的第二温度传感器结构。

10.一种在固定床反应器中加工进料的方法，其包括：

在反应器中在固定床加工条件下使烃类进料暴露于固定催化剂床中的催化剂以形成反应器流出物，固定床加工条件包括固定催化剂床的平均催化剂床温度，反应器进一步包含一个或多个温度传感器结构，一个或多个温度传感器结构具有阈值温度；和

检测反应器流出物中的可检测物质，可检测物质通过一个或多个温度传感器结构中的至少一个引入反应器流出物中，

其中：

a)当可检测物质在温度传感器结构暴露于阈值温度以前可检测时，反应器流出物中检测到的可检测物质的量比在平均催化剂床温度下在反应器流出物中检测到的平均量大至少约1％；或者

b)当可检测物质在温度传感器结构暴露于阈值温度以前不可检测时，反应器流出物中可检测物质的量大于可检测物质的检测极限。

11.根据权利要求10的方法，其中反应器流出物中检测到的可检测物质的量比在平均催化剂床温度下检测的平均量大至少约10倍。

12.根据权利要求10的方法，其中一个或多个温度传感器结构具有在阈值温度以下的温度下将可检测物质引入反应器中的第一引入速率和在阈值温度以上的温度下引入可检测物质的第二引入速率，第二引入速率为第一引入速率的至少约5倍。

13.根据权利要求10的方法，其中平均床温度比阈值温度低至少约20℃。

14.根据权利要求10的方法，其中烃类进料包含石油进料、可再生进料、精炼进料、化学品进料或其组合。

15.根据权利要求10的方法，其中一个或多个温度传感器结构包含温度传感器颗粒。

16.根据权利要求15的方法，其中温度传感器颗粒无规则地分布于催化剂床中。