[发明专利]用于检查物流式行进物品的检查机和检查方法有效

专利信息
申请号: 201780014817.6 申请日: 2017-02-27
公开(公告)号: CN108778532B 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: A·布尔里;G·勒格赫 申请(专利权)人: 贝蓝科光谱分拣技术有限公司
主分类号: B07C5/342 分类号: B07C5/342
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 李丽
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 检查 物流 行进 物品 方法
【权利要求书】:

1.一种自动检查机(1),用于自动检查在传送平面(3)上以物流(F)形式行进的以基本单层方式布置的单件物品(2)、整体式表面制品、或者呈基本连续层分布的颗粒制品,所述自动检查机(1)一方面能够并且用于根据化学成分和/或颜色来鉴别单件物品、颗粒制品或者鉴别表面制品区域,另一方面具有至少一个照射站(4)和至少一个检测站(4'),待检查的物流(F)在照射站和检测站下通过,

所述照射站(4)具有用于施加和聚焦检查用的辐射(R)的施加和聚焦装置,辐射来自一个或者多个非相干宽谱光源,施加和聚焦装置朝传送平面(3)的方向发出所述辐射(R)以限定照射平面(7),所述照射平面(7)和传送平面(3)相交则限定横向于物流(F)的行进方向(D)延伸的照射线(8)、以及横向带状的聚焦照射区域(ZEF),所述聚焦照射区域在所述照射线(8)的两侧延伸在传送平面(3)上,

所述检测站(4')具有:

一方面,检测装置(9),检测装置允许周期性地扫描照射线(8)的每个点,持续地接收由围绕当前扫描点延伸的像素(10)或基本测量区域反射的辐射,在检测装置(9)扫描照射线(8)的过程中,活动的像素(10)限定横向带状的检测区域(ZD),检测区域(ZD)沿与行进方向(D)垂直的轴线的尺寸(L)相应于检测站(4')的检查宽度,以及

另一方面,用于收集反射的多光谱辐射的光束(12)并将其传输到至少一个采集装置的收集和传输装置,其中采集装置连接于分析装置,而能够并且用于对像素(10)中含有的、由所述收集和传输装置传输的信号进行处理,

自动检查机(1)的特征在于,聚焦照射区域(ZEF)在整个检查宽度上包含在检测区域(ZD)中。

2.根据权利要求1所述的自动检查机,其特征在于,扫描活动的像素(10)具有沿物流(F)行进轴线的行进方向(D)的带有上游和下游边界或边缘(10’)的确定延伸部分;并且,施加和聚焦装置配置成进行照射限制,使得在活动的像素(10)在传送平面(3)上或在传送平面附近整个移动的期间,聚焦照射区域(ZEF)的沿行进方向(D)的上游和下游边界或边缘始终包含在像素(10)的沿所述行进方向(D)的上游和下游边界或边缘(10')内。

3.根据权利要求1或2所述的自动检查机,其特征在于,扫描活动的像素(10)的形状取决于为所述至少一个采集装置和分析装置组成部分的传感器(15)的布置形状或传感器形状、和/或取决于具有所述传感器(15)的采集装置的反射辐射的入口(13')的形状。

4.根据权利要求1或2所述的自动检查机,其特征在于,活动的像素(10)在沿照射线(8)扫描移动期间的被照射区域(10)、即像素与聚焦照射区域(ZEF)的公共表面占所述像素(10)的总面积的不到80%。

5.根据权利要求1或2所述的自动检查机,其特征在于,施加和聚焦装置具有用于反射和限制来自所述非相干宽谱光源的辐射的装置、以及位于确定的角扇形区(18)中并用于遮挡由所述非相干宽谱光源向传送平面(3)直接发出的辐射的装置(16),使得传送平面(3)上接收的全部辐射(R)都通过所述施加和聚焦装置并到达聚焦照射区域(ZEF)。

6.根据权利要求1或2所述的自动检查机,其特征在于,检测装置(9)限定的扫描频率是可调节的,以能够按物流(F)的行进速度进行调节,以便在扫描相继两条线的期间,每条线的限制的聚焦照射区域(ZEF)在行进中的传送平面(3)上照射沿行进方向(D)确切邻接的横向带状部分,来至少一次分析行进的物流(F)的每个点。

7.根据权利要求1或2所述的自动检查机,其特征在于,检测装置(9)限定的扫描频率是可调节的,以能够按物流(F)的行进速度进行调节,以便在扫描相继两条线的期间,每条线的限制的聚焦照射区域(ZEF)在行进中的传送平面(3)上照射或者分开可控设定距离、或者在一段距离上或以可控设定比率重叠的横向带状表面。

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