[发明专利]突变孔在审
| 申请号： | 201780015042.4 | 申请日： | 2017-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN108779170A | 公开（公告）日： | 2018-11-09 |
| 发明（设计）人： | 拉科马·贾亚辛格;伊丽莎白·杰恩·华莱士 | 申请（专利权）人： | 牛津纳米孔技术公司 |
| 主分类号： | C07K16/12 | 分类号： | C07K16/12;C12Q1/6869 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 彭雪瑞;臧建明 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 分析物检测 突变形式 突变 | ||
1.一种突变CsgG单体，其包含SEQ ID NO：2中所示序列的变异体，所述变异体包含R97W、R93W、R93Y和R97Y、F191T；V105、A106和I107的缺失；和/或位置R192、F193、I194、D195、Y196、Q197、R198、L199、L200和E201中的一或多个的缺失。
2.根据权利要求1所述的突变CsgG单体，其中所述变异体包含R97W。
3.根据权利要求3或4所述的突变CsgG单体，其包含F193、I194、D195、Y196、Q197、R198和L199的缺失或D195、Y196、Q197、R198和L199的缺失。
4.根据权利要求1或2所述的突变CsgG单体，其中所述变异体包含以下中的一个或多个：(i)在以下位置处的一或多个突变：N40、D43、E44、S54、S57、Q62、R97、E101、E124、E131、R142、T150和R192；(ii)在以下处的突变：Y51/N55、Y51/F56、N55/F56或Y51/N55/F56；(iii)Q42R或Q42K；(iv)K49R或K94Q；(v)N102R、N102F、N102Y或N102W；(vi)D149N、D149Q或D149R；(vii)E185N、E185Q或E185R；(viii)D195N、D195Q或D195R；(ix)E201N、E201Q或E201R；(x)E203N、E203Q或E203R；(xi)以下位置中的一或多个的缺失：F48、K49、P50、Y51、P52、A53、S54、N55、F56和S57；以及(xii)在以下位置处的一或多个突变：L90、N91、I95、A99、Q114。
5.根据权利要求1到3中任一项所述的突变单体，其中所述变异体包含(a)在Y51和/或F56处的突变；和/或(b)在R192处的突变。
6.根据权利要求4所述的突变单体，其中所述在Y51处的突变是Y51A；和/或所述在Y56处的突变是F56Q。
7.根据权利要求4或5所述的突变单体，其中所述在R192处的突变是R192D。
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