[发明专利]测试插座以及导电颗粒

说明书

本发明涉及一种测试插座以及导电颗粒。测试插座包括：多个导电部，排列于与测试目标装置的端子对应的位置且在测试插座的表面方向上彼此间隔开，导电部中的每一者包括多个导电颗粒，多个导电颗粒包含于弹性绝缘材料中且在测试插座的厚度方向上对齐；以及绝缘支撑体，排列于彼此间隔开的导电部之间，以支撑导电部并使导电部在表面方向上彼此绝缘，其中导电颗粒中的每一者包括：本体，具有柱形状；以及至少两个突出部，自本体的上端部突出，其中在彼此相邻的突出部之间设置有朝本体凹陷的凹陷部，且突出部的相互面对的内表面之间的角度是小于90°的锐角。

技术领域

本发明涉及一种测试插座以及导电颗粒，更具体而言尤其涉及一种被配置成即便当测试插座频繁接触测试目标装置时仍长时间维持导电性的测试插座及导电颗粒。

背景技术

一般而言，在测试制造期间使用测试插座以检查所制造装置是否具有缺陷或错误。举例而言，当执行电性测试以检查所制造装置(测试目标装置)是否具有缺陷或错误时，不使所述测试目标装置与测试设备直接地接触彼此而是通过测试插座间接地连接至彼此。此乃因测试设备相对昂贵且在因频繁接触测试目标装置而被磨损或损坏，进而需要被新测试设备取代时造成困难及高的成本。因此，可将测试插座可拆卸地附接至测试设备的上侧，且接着可通过使测试目标装置接触测试插座而非使测试目标装置接触测试设备来将欲测试的所述测试目标装置电性连接至所述测试设备。此后，可经由测试插座将自测试设备产生的电性信号传输至测试目标装置。

参照图1及图2，可将测试插座100放置于测试目标装置130与测试设备140之间以将测试目标装置130的端子131电性连接至测试设备140的接垫141。测试插座100包括：导电部110，排列于与测试目标装置130的端子131对应的位置且在测试插座100的厚度方向上具有导电性，导电部110中的每一者是通过在测试插座100的厚度方向上在弹性绝缘材料112中排列多个导电颗粒111而形成；以及绝缘支撑体120，支撑导电部110且使导电部110彼此绝缘。当测试插座100安装于测试设备140上时，测试插座100的导电部110接触测试设备140的接垫141，且测试目标装置130可接触测试插座100的导电部110。

测试目标装置130可利用插入物来传送且可放置于测试插座100上同时接触测试插座的导电部110。此后，电性信号可经由测试插座100自测试设备140传输至测试目标装置130以对测试目标装置130进行电性测试。

测试插座100的导电部110是通过在弹性绝缘材料112排列导电颗粒111而形成，且可使测试目标装置130的端子131频繁接触导电部110。如上所述，当测试目标装置130的端子131频繁接触导电部110时，分布于弹性绝缘材料112中的导电颗粒111可轻易地与弹性绝缘材料112分离。具体而言，由于导电颗粒111具有球体形状，因此导电颗粒111可更轻易地与弹性绝缘材料112分离。如上所述，若将导电颗粒111分离，则测试插座100的导电性可能降低，且因此可能对测试可靠性造成负面影响。

在由本申请案的申请人提出申请的标题为“具有导电柱颗粒的测试插座”的韩国专利第1019721号中揭示了一种用于解决与现有技术的球体导电颗粒相关的问题的技术。如图3中所示，此种测试插座200包括：导电部210，分别包括多个导电柱颗粒211，所述多个导电柱颗粒211放置于弹性绝缘材料中；以及绝缘支撑体220，支撑导电部210。由于导电柱颗粒211分布于测试插座200的导电部210中，因此邻近的导电柱颗粒211之间的接触面积可为相对大的，且因此测试插座200的电阻可减小，藉此提供稳定的电性连接。另外，由于相较于现有技术的球体导电颗粒而言导电柱颗粒211与弹性绝缘材料具有相对大的接触面积，因此导电柱颗粒211与弹性绝缘材料之间的粘合是强的，且因此即便当重复执行测试时，导电柱颗粒211仍可能无法轻易地与弹性绝缘材料分离。