[发明专利]磁共振成像装置以及图像处理方法有效
申请号: | 201780015860.4 | 申请日: | 2017-03-17 |
公开(公告)号: | CN108778116B | 公开(公告)日: | 2021-11-12 |
发明(设计)人: | 白猪亨;佐藤良太;谷口阳;越智久晃;村濑毅伦;尾藤良孝 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾贤伟;范胜杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 以及 图像 处理 方法 | ||
1.一种磁共振成像装置,其具备:发送部,其对配置在静磁场内的被检体发送高频磁场脉冲;接收部,其接收所述被检体产生的核磁共振信号;磁场梯度产生部,其对静磁场赋予磁场梯度;以及计算机,其对接收到的所述核磁共振信号实施运算,该磁共振成像装置的特征在于,
所述计算机具备:
图像重构部,其根据在多个不同回波时间获取到的核磁共振信号生成多个复数图像;
第一分辨率变换部,其将所述多个复数图像分别变换成相比该复数图像为低分辨率;
相位分布分离部,其从由所述第一分辨率变换部处理的低分辨率图像分离全局性频率分布和偏移相位分布;
第二分辨率变换部,其将由所述相位分布分离部分离的全局性频率分布及偏移相位分布变换为与所述多个复数图像相同的分辨率;以及
局部性频率分布计算部,其使用由所述第二分辨率变换部处理的全局性频率分布及偏移相位分布和所述多个复数图像来计算局部性频率分布。
2.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述相位分布分离部具备:
相位差计算部,其针对多个所述低分辨率图像计算图像间的相位差;
折返去除部,其去除所述相位差计算部计算出的相位差的相位折返;
频率变换部,其将由所述折返去除部去除了折返的相位差换算为频率并计算频率分布;
频率分布分离部,其将所述频率变换部计算出的频率分布分离为全局性频率分布和局部性频率分布;以及
偏移相位分布计算部,其使用所述低分辨率图像和由所述频率变换部计算出的频率分布,计算偏移相位分布。
3.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述相位分布分离部具备:
拟合部,其使多个所述低分辨率图像分别与测量时的信号逻辑式拟合,并计算频率分布和偏移相位分布;
折返去除部,其去除所述频率分布的折返;以及
频率分布分离部,其将由所述折返去除部去除了折返的频率分布分离为全局性频率分布和局部性频率分布。
4.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述相位分布分离部具备:
拟合部,其设定包括第一物质的信号和共振频率与该第一物质不同的第二物质的信号的信号逻辑式,使多个所述低分辨率图像分别与所述信号逻辑式拟合,并计算由所述第一物质与所述第二物质的共振频率差引起的相位分布、频率分布、偏移相位分布;
频率分布分离部,其将通过所述拟合部计算出的频率分布分离为全局性频率分布和局部性频率分布;以及
合成偏移相位分布计算部,其合成由所述共振频率差引起的相位分布和所述偏移相位分布来计算合成偏移相位分布,
所述第二分辨率变换部将所述全局性频率分布和所述合成偏移相位分布变换为与所述多个复数图像相同的分辨率,所述局部性频率分布计算部使用由所述第二分辨率变换部处理的全局性频率分布及合成偏移相位分布和多个复数图像来计算局部性频率分布。
5.根据权利要求4所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述第一物质和所述第二物质为水和脂肪。
6.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述计算机还具备:加权平均部,其将针对多个所述复数图像中的每一个复数图像计算出的所述全局性频率分布及/或局部性频率分布进行加权平均。
7.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述第二分辨率变换部具备使全局性频率分布及/或偏移相位分布平滑化的平滑部。
8.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
还具备:
局部磁场计算部,其使用所述局部性频率分布计算部计算出的局部性频率分布来计算局部磁场分布;以及
磁化率分布计算部,其使用所述局部磁场计算部计算出的局部磁场和磁场与磁化率的关系式来计算磁化率分布。
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