[发明专利]皮肤类型和条件的光学评估在审

专利信息
申请号: 201780017305.5 申请日: 2017-03-13
公开(公告)号: CN108778098A 公开(公告)日: 2018-11-09
发明(设计)人: S·德立瓦拉 申请(专利权)人: 美国亚德诺半导体公司
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00;A61B5/145;G01N21/25
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张鑫
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 目标化学品 光电探测器检测 光电探测器 波长带 波长 样本 方法和装置 非接触系统 比率确定 处理逻辑 光学检测 光学评估 皮肤类型 光入射 配置 紧凑 检测
【权利要求书】:

1.一种光学检测目标化学品的存在和/或量的装置,该装置包括:

第一光电探测器,被配置为检测与所述目标化学品相互作用的第一波长的光;

第二光电探测器,被配置为检测与所述目标化学品相互作用的第二波长的光;和

处理逻辑,被配置为:

计算指示至少所述第一光电探测器(Intl)检测的光强度的第一参数与指示至少第二光电探测器(Int2)检测的光强度的第二参数之间的比率(R),和

基于计算的比率确定所述目标化学品的存在和/或量。

2.根据权利要求1所述的装置,其中:

所述第一光电探测器被配置为检测与所述目标化学品相互作用的第一波长带的光,所述第一波长带包括第一波长,并且所述第二光电探测器被配置为检测与所述目标化学品相互作用的第二波长带的光,所述第二波长带包括第二波长。

3.根据权利要求2所述的装置,其中所述第一波长带和所述第二波长带至少部分重叠。

4.根据权利要求3所述的装置,其中所述第一波长带包括在所述第二波长带内并计算如下:

R=(αIntl-β(Int2-Intl)/Int2,

其中α和β是预定的参数。

5.权利要求2所述的装置,其中所述比率计算为以下之一:

R=(Int2-Int l)/(Int2+Intl'),

R=Int2/Intl',

R=(Int2+Intl)/(Int2-Intl'),或

R=Intl/Int2'。

6.根据前述权利要求中任一项所述的装置,其中所述第一光电探测器设置在距离所述第二光电探测器小于5毫米的距离处。

7.根据权利要求1-5中任一项所述的装置,其中所述第一光电探测器和所述第二光电探测器中的每一个包括多个光电检测区域,并且所述第一光电探测器的光电检测区域与所述第二光电探测器的光电检测区域交错。

8.根据权利要求6或7所述的装置,其中所述第一光电探测器和所述第二光电探测器设置在同一个芯片上。

9.根据前述权利要求中任一项所述的装置,其中所述第一光电探测器被配置为通过检测入射在所述第一光电探测器的一个或多个光电检测区域上的光来检测第一波长的光,该第一光电探测器已通过第一光学滤波器,并且所述第二光电探测器被配置为通过检测入射在所述第二光电探测器的一个或多个光电检测区域上的光来检测第二波长的光,该第二光电探测器已通过第二光学滤波器。

10.根据权利要求9所述的装置,其中所述第一光学滤波器和/或所述第二光学滤波器作为涂层设置在相应的光电探测器上。

11.根据前述权利要求中任一项所述的装置,其中:

调制第一波长的光,并将所述第一光电探测器检测到的光锁定到第一波长的光的调制,和/或调制第二波长的光,并且由所述第二光电探测器检测的光被锁定到第二波长的光的调制。

12.根据前述权利要求中任一项所述的装置,其中所述第一光电探测器被配置为基本上与检测第二波长的光的第二光电探测器同时检测第一波长的光。

13.根据前述权利要求中任一项所述的装置,还包括一个或多个光源,配置成产生与所述目标化学品相互作用光。

14.根据权利要求13所述的装置,其中由所述一个或多个光源产生的光包括宽带光。

15.根据权利要求14所述的装置,其中由所述一个或多个光源产生的光带至少部分地与所述第一光电探测器被配置为检测的光带重叠和与所述第二光电探测器被配置为检测的光带重叠。

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