[发明专利]对焦控制装置、镜头装置、摄像装置、对焦控制方法、对焦控制程序有效
申请号: | 201780020424.6 | 申请日: | 2017-03-21 |
公开(公告)号: | CN109073859B | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 田中康一 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G02B7/34 | 分类号: | G02B7/34;G02B7/28;G03B13/36;H04N5/232;G03B30/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐殿军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 对焦 控制 装置 镜头 摄像 方法 控制程序 | ||
本发明提供一种进行适于被摄体的相位差计算而能够提高对焦控制的精度的对焦控制装置、镜头装置、摄像装置、对焦控制方法及对焦控制程序。本发明的系统控制部(11)具备:加法运算相关值运算部(11A),进行垂直加法运算而得到的第一信号组与第二信号组的相关值运算;非加法运算相关值运算部(11B),进行垂直加法运算前的检测信号组的相关值运算;选择部(11C),计算通过加法运算相关值运算部(11A)进行的相关值运算的第一结果信息和通过非加法运算相关值运算部(11B)进行的相关值运算的第二结果信息的一致度,并根据一致度来选择第一结果信息与第二结果信息中的某一个;及透镜驱动部(11E),根据由选择部(11C)而选择的结果信息来驱动聚焦透镜。
技术领域
本发明涉及一种对焦控制装置、镜头装置、摄像装置、对焦控制方法、对焦控制程序。
背景技术
随着CCD(电荷耦合器件,Charge Coupled Device)图像传感器或CMOS(互补金属氧化物半导体,Complementary Metal Oxide Semiconductor)图像传感器等成像元件的高分辨率化,对包括数码相机、数码摄像机或智能手机的移动电话等具有摄影功能的信息设备的需求骤增。另外,将如上具有摄像功能的信息设备称为摄像装置。
这些摄像装置中,作为对主要被摄体进行对焦的对焦控制方法,采用了相位差AF(自动聚焦,Auto Focus)方式(参考专利文献1、2)。
在专利文献1、2中记载有一种摄像装置,其具有多个相位差检测用像素的对,且具有沿垂直方向排列有多个由沿水平方向并排的多个对构成的对行的成像元件。
专利文献1中记载的摄像装置根据被摄体亮度来选择性地执行了如下两种方法:根据对多个对行的相位差检测用像素的检测信号进行加法运算而得到的信号来计算出相位差,并根据该相位差来计算散焦量的方法;及使用对按每个对行而计算出的相位差进行平均而计算出的平均相位差来计算散焦量的方法。
专利文献2中记载的摄像装置将成像元件的受光面沿垂直方向分割为多个框,并根据对位于各框内的多个对行的检测信号进行加法运算而得到的信号来进行相关值运算,并根据每个框的相关值运算的结果来计算散焦量。
以往技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2010-152161号公报
专利文献2:WO2012-073727号公报
发明内容
发明要解决的技术课题
如专利文献1、2中记载的那样,通过对多个相位差检测用像素的检测信号进行加法运算,并使用加法运算后的检测信号来计算相位差,能够降低干扰且高精度地计算相位差。
但是,根据欲进行对焦的被摄体,有时通过对检测信号进行加法运算,会使对比度降低且相位差的检测精度降低。例如,在斜线或细的花纹等被摄体中,通过对检测信号进行加法运算,有可能使相位差的检测精度降低。
关于专利文献1中记载的摄像装置,根据被摄体的亮度而选择如下两种方法:对检测信号进行加法运算之后求出相位差的方法;及不对检测信号进行加法运算而求出相位差,并求出多个相位差的平均的方法。但是,以被摄体的亮度是无法区分如上所述的斜线或细的花纹等被摄体的。因此,无法充分地提高相位差的计算精度。
专利文献2中记载的摄像装置以对检测信号进行加法运算为前提,因此无法根据被摄体灵活地改变相位差的计算方法。
本发明是鉴于上述情况而完成的,其目的在于提供一种进行适于被摄体的相位差计算而能够提高对焦控制的精度的对焦控制装置、镜头装置、摄像装置、对焦控制方法及对焦控制程序。
用于解决技术课题的手段
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