[发明专利]二次电池劣化估计装置和二次电池劣化估计方法有效
申请号: | 201780020780.8 | 申请日: | 2017-03-28 |
公开(公告)号: | CN108885242B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 岩根典靖;光山泰司 | 申请(专利权)人: | 古河电气工业株式会社;古河AS株式会社 |
主分类号: | G01R31/367 | 分类号: | G01R31/367;G01R31/392;H01M10/42;H01M10/48;H02J7/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二次 电池 估计 装置 方法 | ||
能够准确地估计各种二次电池的劣化,并且即使在产生了电池单元之间的偏差的情况下,也能够准确地估计二次电池的劣化。一种二次电池劣化估计装置(1),其估计二次电池(14)的劣化,该二次电池劣化估计装置(1)的特征在于,具有:求出单元(CPU10a),其求出构成二次电池的等效电路的成分;存储单元(RAM 10c),其存储二次电池的使用状态的历史;以及估计单元(CPU10a),其根据构成等效电路的成分来估计二次电池的劣化状态,估计单元根据存储单元所存储的使用状态的历史来对基于构成等效电路的成分的估计过程或者估计结果进行修正。
技术领域
本发明涉及二次电池劣化估计装置和二次电池劣化估计方法。
背景技术
以往,提出有估计二次电池的劣化状态的技术。例如,在专利文献1所公开的技术中,根据二次电池的使用历史估计劣化状态。
此外,在专利文献2、3所公开的技术中,使用二次电池的内部电阻或者等效电路,检测它们从初始值起的变化,由此来估计二次电池的劣化。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2015-141117号公报
专利文献2:日本特开2005-221487号公报
专利文献3:日本特开2007-187534号公报
发明内容
发明要解决的课题
另外,在专利文献1所公开的技术中,在作为劣化估计的对象的二次电池的种类固定而没有被变更的情况下,能够以比较高的精度估计劣化状态。但是,例如,在以搭载于汽车等的二次电池为估计对象的情况下,有时会搭载与最初不同的种类的二次电池。在这样的情况下,具有估计精度下降的问题。
另一方面,在专利文献2、3所公开的技术的情况下,由于是检测从初始值起的变化,因此,即使在作为估计对象的二次电池的种类发生了变化的情况下,也能够高精度地估计劣化状态。但是,在专利文献2、3所公开的技术中,在串联地配置多个单位电化学电池单元而构成的二次电池的情况下,在各单位电化学电池单元之间劣化程度会产生偏差。在这样的情况下,虽然劣化状态被最劣化的单位电池单元支配,但作为二次电池的内部电阻、等效电路成分,仅能够测定多个电池单元整体的内部电阻、等效电路成分。因此,在劣化产生了偏差的情况下,存在无法准确地估计劣化状态的问题。
本发明正是鉴于如上这样的状况而完成的,其目的在于提供一种能够准确地估计各种二次电池的劣化并且即使在电池单元之间产生了偏差的情况下也能够准确地估计二次电池的劣化的二次电池劣化估计装置和二次电池劣化估计方法。
用于解决问题的手段
为了解决上述课题,本发明是一种二次电池劣化估计装置,其估计二次电池的劣化,该二次电池劣化估计装置的特征在于,具有:求出单元,其求出构成所述二次电池的等效电路的成分;存储单元,其存储所述二次电池的使用状态的历史;以及估计单元,其根据构成所述等效电路的成分来估计所述二次电池的劣化状态,所述估计单元根据所述存储单元中所存储的所述使用状态的历史来修正基于构成所述等效电路的成分的估计过程或者估计结果。
根据这样的结构,能够准确地估计各种二次电池的劣化,并且,即使在产生了电池单元之间的偏差的情况下,也能够准确地估计二次电池的劣化。
此外,本发明的特征在于,所述估计单元根据所述使用状态的历史求出与构成所述二次电池的电池单元的劣化的偏差有关的信息,根据该信息对基于构成所述等效电路的成分的估计过程或者估计结果进行修正。
根据这样的结构,能够根据二次电池的偏差估计接近实际的值的劣化。
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