[发明专利]提供参考电压或电流的系统和方法有效
申请号: | 201780021902.5 | 申请日: | 2017-03-10 |
公开(公告)号: | CN109074115B | 公开(公告)日: | 2020-10-02 |
发明(设计)人: | 宋超;K·王 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G05F3/26 | 分类号: | G05F3/26 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 提供 参考 电压 电流 系统 方法 | ||
1.一种电流镜电路,包括:
第一部分,包括:第一二极管连接的晶体管,所述第一二极管连接的晶体管具有耦合到第二二极管连接的晶体管的漏极端子的漏极端子、耦合到所述第二二极管连接的晶体管的栅极端子的栅极端子、以及耦合到第一功率水平的源极端子;以及第一晶体管,所述第一晶体管具有耦合到所述第一二极管连接的晶体管的所述栅极端子的栅极端子;
第二部分,包括第三二极管连接的晶体管,所述第三二极管连接的晶体管与第四二极管连接的晶体管串联耦合,所述第四二极管连接的晶体管具有耦合到第二功率水平的源极端子;以及
第二晶体管,具有耦合到所述第一部分的第一端子、耦合到第一电阻器的第一端子的第二端子、以及耦合到所述第三二极管连接的晶体管的栅极端子的栅极端子,所述第一电阻器具有耦合到所述第二功率水平的第二端子。
2.根据权利要求1所述的电流镜电路,其中所述第一二极管连接的晶体管和所述第二二极管连接的晶体管被包括在第一二极管连接的成对的晶体管中,所述第一二极管连接的成对的晶体管包括NMOS晶体管以及PMOS晶体管,进一步地,其中所述第三二极管连接的晶体管和所述第四二极管连接的晶体管对被包括在第二二极管连接的成对的晶体管中,所述第二二极管连接的成对的晶体管包括NMOS晶体管。
3.根据权利要求2所述的电流镜电路,其中所述第二二极管连接的成对的晶体管进一步包括PMOS晶体管。
4.根据权利要求2所述的电流镜电路,进一步包括放置在所述第一晶体管的所述漏极端子处的参考电压端子。
5.根据权利要求3所述的电流镜电路,其中所述第一晶体管的驱动强度与所述第一二极管连接的成对的晶体管的驱动强度的比率是1/X,进一步地,其中所述第二晶体管的所述驱动强度与所述第二二极管连接的成对的晶体管的驱动强度的比率是1/X。
6.根据权利要求1所述的电流镜电路,其中所述电流镜电路与数控振荡器和所述数控振荡器的电源被放置在相同的半导体芯片上,其中所述电源被配置为产生电源电压,所述电源电压对应于来自所述电流镜电路的参考电压,并且进一步地,其中所述数控振荡器被配置为接收所述电源电压。
7.根据权利要求3所述的电流镜电路,其中所述第一电阻器和所述第一晶体管与所述第一二极管连接的成对的晶体管串联耦合,进一步地其中第二电阻器和所述第二晶体管与所述第二二极管连接的成对的晶体管串联耦合。
8.根据权利要求2所述的电流镜电路,进一步包括具有第三晶体管的启动电路,所述第三晶体管具有与所述第一功率水平耦合的漏极端子、与所述第一晶体管的所述漏极端子以及所述第二二极管连接的成对的晶体管的所述PMOS晶体管的源极端子耦合的源极端子。
9.一种方法,包括:
对第一电流和第二电流进行镜像,其中在电源和地之间的所述第一电流的路径包括串联的第一电阻器、第一晶体管、第一二极管连接的晶体管、以及第二二极管连接的晶体管,进一步地,其中在所述电源和地之间的所述第二电流的路径包括串联的第二晶体管、第三二极管连接的晶体管、以及第四二极管连接的晶体管,所述第二晶体管具有耦合到所述第一二极管连接的晶体管和所述第二二极管连接的晶体管的相应栅极端子的栅极端子,所述第一晶体管具有耦合到所述第三二极管连接的晶体管的相应栅极端子的栅极端子,其中进行镜像包括:
将所述第一晶体管的栅极和所述第三二极管连接的晶体管以及所述第四二极管连接的晶体管的栅极保持在相同的电压;
将所述第二晶体管的栅极和所述第一二极管连接的晶体管以及所述第二二极管连接的栅极保持在相同的电压;以及
从放置在所述第二晶体管和所述第三二极管连接的晶体管之间的节点输出参考电压。
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述参考电压等于所述第三二极管连接的晶体管和所述第四二极管连接的晶体管的栅源电压之和。
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