[发明专利]长尺寸片材的厚度测量方法以及厚度测量系统

权利要求书

1.一种长尺寸片材的厚度测量方法，其为对于被按压于卷筒的同时被卷绕于卷轴的长尺寸片材测量其厚度的厚度测量方法，其特征在于，

所述卷筒的位置被固定，与之相对，所述卷轴随着辊径的增加在流动方向上能够移动，

作为所述长尺寸片材形成的卷绕辊的辊径的增加量，通过照相机对所述卷轴的旋转中的轴的端面进行拍摄，基于该照相机拍摄到的图像进行图像处理，求得卷轴的旋转中的该轴的中心位置之后，测量其中心位置的流动方向移动量，

同时，测量所述卷轴的旋转次数，

通过使用所测量的辊径的增加量和旋转次数的运算，求得所述长尺寸片材的厚度。

2.根据权利要求1所述的长尺寸片材的厚度测量方法，其特征在于，

使在所述卷绕辊的宽度方向上具有长度的线状激光照射至所述卷绕辊的表面，

同时，对于照射至所述卷绕辊的表面的线状激光，从不同于其照射方向的角度进行拍摄，

基于拍摄到的线状激光的图像进行图像处理，测量卷绕辊的宽度方向辊径的增加量，

通过使用所测量的宽度方向辊径增加量和所述旋转次数的运算，还求得所述长尺寸片材的轮廓。

3.根据权利要求2所述的长尺寸片材的厚度测量方法，其特征在于，

使在所述卷绕辊的宽度方向上具有长度的线状激光在某个时刻照射至所述卷绕辊的表面，同时对于照射至所述卷绕辊的表面的线状激光，从不同于其照射方向的角度进行拍摄，基于拍摄到的线状激光的图像，测量卷绕辊的宽度方向辊径作为基准值，

经过时间之后，再次使在所述卷绕辊的宽度方向上具有长度的线状激光照射至所述卷绕辊的表面，同时对于照射至所述卷绕辊的表面的线状激光，从不同于其照射方向的角度进行拍摄，基于拍摄到的线状激光的图像，遍及卷绕辊的宽度整体同时求得从卷绕辊的宽度方向辊径的所述基准值的增加量，

测量该经过时间内的所述卷轴的旋转次数，

通过使用所测量的宽度方向辊径的增加量和旋转次数的运算，求得所述经过时间内的所述长尺寸片材的轮廓。

4.根据权利要求1所述的长尺寸片材的厚度测量方法，其特征在于，

为了求得所述旋转中的轴的中心位置，在该轴的旋转中，对设置于轴的端面的中心标记进行多次拍摄，通过图像处理求得通过该拍摄获得的该中心标记的多个图像的重心。

5.一种长尺寸片材的厚度测量系统，其为对于被按压于卷筒的同时被卷绕于卷轴的长尺寸片材测量其厚度的厚度测量系统，其特征在于，包括：

辊径测量装置，通过非接触方式测量所述长尺寸片材形成的卷绕辊的辊径的增加量；

旋转次数测量装置，测量所述卷轴的旋转次数；

测量控制装置，进行使用所述辊径测量装置测量得到的辊径的增加量和所述旋转次数测量装置测量得到的旋转次数的运算；

同时，所述卷筒的位置被固定，与之相对，所述卷轴随着辊径的增加在流动方向上能够移动，

所述辊径测量装置为测量所述卷轴的端面在流动方向上的移动量的流动方向移动量测量装置，

所述流动方向移动量测量装置包括：流动方向用照相机，其对所述卷轴的旋转中的轴的端面进行拍摄；流动方向用图像处理装置，其基于该流动方向用照相机拍摄到的图像求得卷轴的旋转中的该轴的中心位置之后，测量其中心位置的流动方向移动量。

6.根据权利要求5所述的长尺寸片材的厚度测量系统，其特征在于，

除了所述流动方向移动量测量装置以外，所述辊径测量装置包括宽度方向辊径测量装置，所述宽度方向辊径测量装置包括：

线状激光光源，其配置为使在所述卷绕辊的宽度方向上具有长度的线状激光照射至所述卷绕辊的表面；

宽度方向用照相机，其对于从该线状激光光源照射至卷绕辊的表面的线状激光，从不同于其照射方向的角度进行拍摄；

宽度方向用图像处理装置，其基于该宽度方向用照相机拍摄到的线状激光的图像，测量卷绕辊的宽度方向辊径的增加量。

7.根据权利要求6所述的长尺寸片材的厚度测量系统，其特征在于，

还具有驱动装置，其使所述流动方向移动量测量装置和所述宽度方向辊径测量装置同步移动。

8.根据权利要求5所述的长尺寸片材的厚度测量系统，其特征在于，

所述流动方向用照相机对设置于所述卷轴的轴的端面的中心标记在该轴的旋转中进行多次拍摄，所述流动方向用图像处理装置通过求得由该拍摄获得的该中心标记的多个图像的重心，求得所述轴的中心位置。