[发明专利]干燥机及干燥机用光谱分析装置

说明书

一种干燥机及干燥机用光谱分析装置，其精度良好地测定谷物的水分量。干燥机具备使谷物干燥的干燥部和由光谱分析来测定通过了所述干燥部的流动的谷物的水分量的光谱分析装置，所述光谱分析装置具有透过板、投光部和受光部，所述透过板具有谷物通过的通过面，且可透过光，所述投光部从所述通过面的相反侧向所述透过板照射光，所述受光部经所述透过板接收通过所述通过面的谷物的反射光，所述通过面遍及所述投光部和所述受光部地齐平。

技术领域

本发明涉及使例如稻谷(稻米)、小麦、谷子、稗子、荞麦、豆类等收获的谷物干燥的干燥机及干燥机用光谱分析装置。

背景技术

稻谷、小麦等谷物由联合收割机等农业机械收获，收获了的谷物在转移到运输车上后，向稻米中心、乡村仓库等的处理设备运输，由该处理设备为了发货而进行处理。在处理设备中，进行将谷物干燥的处理等。作为干燥机的技术，有在专利文献1中所示的干燥机的技术。

在专利文献1中公开的干燥机具备使谷物干燥的干燥部和测定通过了干燥部的谷物的水分量的水分计。

水分计具有通过旋转将谷物压碎并检测在压碎时的电阻值的两个电极辊。通过运算在检测到的电阻值的水分值来测定谷物的水分量。测定了水分量后的谷物被废弃。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007-212086号公报

发明内容

发明所要解决的课题

在以往的干燥机中，为了测定通过了干燥部的谷物的水分量，使用通过将抽样的谷物在两个电极辊之间压碎(破坏)来进行的破坏式的水分计。由此，存在下面的问题。

如上所述，若将谷物在两个电极辊之间压碎，则每次测定谷物的水分量都产生谷物的损耗(屑)。另外，由于压坏了的谷物附着在电极辊上，所以存在测定精度因附着而降低的可能性。

另外，在通过将谷物压坏来测定谷物的水分量的方法中，在从将谷物压坏来测定该谷物的水分到接着测定谷物的水分为止的期间，需要进行将附着在电极辊上的谷物除去的清洗等。因此，虽然使测定间隔变短却存在界限。因此，在以往的干燥机中，难以以高频度测定谷物的水分量。特别是，在高水分区域中，难以提高频度。

若测定间隔长(测定次数少)，则难以正确地把握干燥机内的谷物的水分量的不一致(干燥不匀)。另外，因为若测定次数少，则在存在水分量极端高的谷物或水分量极端低的谷物的情况下，这些谷物的水分量成为干燥的谷物的水分量的代表值，所以存在不能适度地干燥的情况。

在谷物的干燥机中，以谷物的水分量的测定结果为基础，进行减干率的控制(干燥速度的控制)。另外，通过控制成为使谷物干燥的热源的燃烧器，确保目标的减干率。因此，若不能正确地把握干燥机内的谷物的水分量的不一致(干燥不匀)，则不能把握成为燃烧器控制的基础的正确的减干率。另外，若难以正确地把握减干率及干燥机内的谷物的平均水分量，则使干燥机停止的预想时刻的精度变差。

因此，本发明以提供一种能够解决以往的有关谷物的干燥的问题的干燥机及干燥机用光谱分析装置为目的。

为了解决课题的手段

本发明为了解决上述技术课题而采取的技术手段以下面所示的方面为特征。

本发明的干燥机，具备使谷物干燥的干燥部；和由光谱分析测定通过了所述干燥部的流动的谷物的水分量的光谱分析装置，所述光谱分析装置具有透过板、投光部和受光部，所述透过板具有谷物通过的通过面，且可透过光，所述投光部从所述通过面的相反侧向所述透过板照射光，所述受光部经所述透过板接收通过所述通过面的谷物的反射光，所述通过面遍及所述投光部和所述受光部地齐平。

干燥机具备壁部，所述壁部是设置所述光谱分析装置的壁部，具有作为谷物流动的面的引导面和将该壁部贯通且配置所述透过板的开口部。