[发明专利]电子部件的特性测定用的输送装置以及电子部件的特性测定用的收纳构件的制造方法

说明书

提供能够抑制电子部件贴在收纳构件上的情况的电子部件的特性测定用的输送装置以及电子部件的特性测定用的收纳构件的制造方法。收纳构件(12)具有：绝缘部，其由绝缘性材料形成，形成有多个开口和分别与开口连通的多个腔室；以及导电部，其由导电性材料形成，并与绝缘部接合在一起。导电部以与形成于绝缘部的腔室之间设有间隔的方式配置于接触区域(12t)、相对区域以及内部区域中的至少一者，接触区域(12t)是收纳构件(12)的第1主面(12s)中的与自电子部件供给机构(14)供给来的电子部件(18)接触的区域，相对区域是收纳构件(12)的第2主面(12r)中的与接触区域(12t)相对的区域，内部区域夹在接触区域(12t)与相对区域之间。驱动机构(16)使收纳构件(12)相对于电子部件供给机构(14)相对移动。

技术领域

本发明涉及一种电子部件的特性测定用的输送装置，详细而言，涉及一种将电子部件收纳于收纳构件的腔室的输送装置。

背景技术

为了测定电子部件的特性，使用将电子部件以收纳于收纳构件的腔室的状态进行输送的输送装置。

例如，在图16的概略结构图所示的电子部件的特性测定用的输送装置中，圆盘状的收纳构件2沿基座构件1的输送面1a向箭头X所示的方向旋转。基座构件1的输送面1a和收纳构件2相对于水平方向垂直或倾斜地配置。

以与收纳构件2的下部相对的方式设有引导构件5。引导构件5保持电子部件30。随着收纳构件2的旋转，电子部件30被收纳在形成于收纳构件2的腔室3内，通过压缩空气吹出机构6，由配置于区间A的测定部7测定特性，在区间B自腔室3排出。

如图17的剖视示意图所示，电子部件30在两端具有电极30a，利用负压向腔室3吸引电子部件30，将电子部件30以预定的姿势收纳于腔室3。压缩空气吹出机构6自喷出口6a向收纳构件2吹送空气，将因静电而贴在收纳构件2上的电子部件30吹落(例如参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007-153477号公报

发明内容

发明要解决的问题

若以电子部件贴在收纳构件上的状态进行输送，则会咬入构造物而在电子部件产生裂纹、缺口，或使电子部件洒落在预定路径外。通过吹送空气，能够防止此情况。

但是，若电子部件较小，则很难通过吹送空气使贴在收纳构件上的电子部件自收纳构件剥离。例如，针对较小的电子部件，空气作用于电子部件的力减小，电子部件不易自收纳构件剥离。当为了增大空气作用于电子部件的力而增强空气的吹送时，发生收纳于腔室的电子部件自腔室被吹跑，或者在腔室内姿势被打乱，或者在收纳构件内电子部件被搅乱等不良现象。

本发明鉴于该实际情况，想要提供一种能够抑制电子部件贴在收纳构件上的电子部件的特性测定用的输送装置以及电子部件的特性测定用的收纳构件的制造方法。

用于解决问题的方案

本发明为了解决所述问题，提供以下这样构成的电子部件的特性测定用的输送装置。