[发明专利]触针和具有触针的测试基座

说明书

一种触针(100；100₁₂；100₃₂)，用于电连接设于待测试的测试装置(300)上的第一电接触面(13)和设于测试基座(200；200’)中的第二电接触面(17)；包括：与所述测试基座(200；200’)机械连接的长条形中央区域(1)；第一弹性臂(2₁)，其第一端部(4₁)与所述中央区域(1)的第一端部(5)连接且其第二端部(11₁)具有用于与所述第一电接触面(13)进行电接触的第一接触区域(12)；第二弹性臂(3₁)，其第一端部(6₁)与所述中央区域(1)的第一或第二端部(5，7)连接且其第二端部(15₁)具有用于与所述第二电接触面(17)进行电接触的第一接触区域(12)。所述第一和第二弹性臂(2₁，3₁)分别在其第一端部4₁，6₁)的区域内定向为与所述中央区域(1)的纵轴(9)互成(φ₁,φ₂)的夹角，所述夹角小于或等于90°。

技术领域

本发明涉及一种触针和包含多个触针的测试基座。

背景技术

用于对其内的集成电路就其正确功能进行测试的自动测试装备(automatic testequipment(ATE))，基本上由以下设备组成：测量设备(例如网络分析仪)、构成印刷电路板的所谓负载板(loadboard，其作为通用测量设备和作为专用测试装置(DUT))的集成电路之间的专用接口、以及自动处理机，其将集成电路插入到安装在负载板上的测试基座中，将其按压到测试基座上并再次移出)。

为了完整和正确地测试集成电路，测试基座具有特定数量的触针，这些触针通常分别布置成两行或四行，并且每个触针在待测试的集成电路的接触面(在下文中称为第一接触区域)与基座上的相关接触面(在下文中称为第二接触区域)之间形成最佳电连接。

EP 0 906 007 B1公开了这样一种触针，其将待测试的集成电路的接触面连接到测试基座的接触面。

这种触针具有两个弹性区域，利用这两个弹性区域相互独立地在此触针与两个接触面中的一个之间建立两个电连接。

由于集成电路的接触面由锡或其它导电接触材料制成，随着时间的推移，这些接触面上可能例如因氧化而不利于形成覆层，其使接触面与触针的对应接触区域之间的电接触恶化。通过触针的两个接触区域的摩擦运动(其皆平行于接触面延伸，并皆在将待测试的测试装置插入测试基座时发生)，将颗粒从这些如氧化锌层移除，从而重新建立或改善电接触。

但是，EP 0 906 007 B1的触针具有空间伸展度相对较大的缺点。在集成电路日益小型化的背景下，这种触针不适用。

发明内容

因此，本发明的目的在于提供一种克服上述缺点的触针以及一种包含这些触针的测试基座。

本发明用以达到上述目的的解决方案为一种具有权利要求1的特征的触针，以及一种具有权利要求17的特征的测试基座。在各从属权利要求中考虑了有利的技术扩展方案。

根据权利要求1的触针具有中央区域和两个充当弹性件的弹性臂。第一和第二弹性臂分别通过其第一端部与中央区域连接，并分别在其第二端部上具有用于与待测试的测试装置的第一接触面或与测试基座的第二接触面进行电接触的接触区域。下文将该第一弹性臂的接触区域称为第一接触区域，第二弹性臂的接触区域称为第二接触区域。

为使本发明触针尽可能地节省空间，第一弹性臂的第一端部连接到大体呈长条形的中央区域的第一端部，并且第二弹性臂的第一端部连接到中央区域的第一端部或第二端部。另外，第一和第二弹性臂在其第一端部的区域内定向为分别与该中央区域的中轴线互成小于或等于90°的夹角。