[发明专利]用于检测谷物中霉菌毒素的存在的方法和设备

权利要求书

1.一种用于检测谷物中霉菌毒素脱氧雪腐镰刀菌烯醇DON的存在的方法，所述方法包括：

使用积分球捕获未处理的谷物谷粒集合的至少一个漫射光吸收光谱；

使用积分球捕获来自未处理的谷物谷粒集合中的个体谷物谷粒的至少一个漫射光吸收光谱；以及

通过对谷物谷粒集合的至少一个漫射光吸收光谱和个体谷物谷粒的至少一个漫射光吸收光谱执行多变量数据分析，对个体谷物谷粒中的霉菌毒素DON污染水平进行分类；

其中，对至少一个谷物谷粒中的霉菌毒素DON污染水平进行分类的步骤包括计算第一选定波长处的反射率与第二选定波长处的反射率之间的比率的大小；以及基于计算出的比率的大小对至少一个谷物谷粒中的霉菌毒素DON污染水平进行分类。

2.如权利要求1所述的方法，其中捕获个体谷物谷粒的至少一个漫射光吸收光谱的步骤包括通过照射谷物谷粒的多个区域来捕获多个漫射光吸收光谱。

3.如权利要求1所述的方法，其中选定波长在700nm至1500nm的波长范围内。

4.如权利要求1所述的方法，其中对至少一个谷物谷粒中的霉菌毒素DON污染水平进行分类的步骤使用化学计量学技术。

5.如权利要求1所述的方法，其中对至少一个谷物谷粒中的霉菌毒素DON污染水平进行分类的步骤包括将至少一个捕获的光谱与未污染谷粒的光谱进行比较并识别光谱之间的差异。

6.如权利要求5所述的方法，还包括从谷粒光谱的数据库中获得未污染谷粒的光谱。

7.如权利要求6所述的方法，还包括通过将至少一个捕获的光谱与数据库中的多个样品光谱进行比较以找到最佳拟合来识别谷物谷粒集合的谷物类型。

8.如权利要求1所述的方法，还包括：如果捕获多个漫射光吸收光谱，则计算谷物谷粒集合的平均漫射光吸收光谱，并且其中，对至少一个谷物谷粒中的霉菌毒素DON污染水平进行分类的步骤包括对平均光谱执行多变量数据分析。

9.如权利要求1所述的方法，还包括：如果捕获谷物谷粒的多个漫射光吸收光谱，则计算至少一个谷物谷粒的平均漫射光吸收光谱，并且其中对至少一个谷物谷粒中的霉菌毒素DON污染水平进行分类的步骤包括对平均光谱进行多变量数据分析。

10.一种用于检测谷物中霉菌毒素脱氧雪腐镰刀菌烯醇DON的存在的设备，包括：

用于使用积分球捕获谷物谷粒集合的至少一个漫射光吸收光谱的装置(2，4，5)；

用于使用积分球捕获来自未处理的谷物谷粒集合中的个体谷物谷粒的至少一个漫射光吸收光谱的装置(7，10，11)；以及

用于通过对谷物谷粒集合的至少一个漫射光吸收光谱和个体谷物谷粒的至少一个漫射光吸收光谱执行多变量数据分析来对个体谷物谷粒中的霉菌毒素DON污染水平进行分类的装置；

其中，对个体谷物谷粒中的霉菌毒素DON污染水平进行分类包括计算第一选定波长处的反射率与第二选定波长处的反射率之间的比率的大小；以及基于计算出的比率的大小对至少一个谷物谷粒中的霉菌毒素DON污染水平进行分类。

11.如权利要求10所述的设备，其中用于捕获个体谷物谷粒的至少一个漫射光吸收光谱的装置包括比用于捕获谷物谷粒集合的每个漫射光吸收光谱的积分球小的积分球(7)。

12.一种计算机可读介质，包含程序指令，当处理器执行程序指令时，使处理器执行如权利要求1至9中任一项所述的方法。