[发明专利]绕线检查方法及绕线检查装置

说明书

在将绕线线圈(1)形成于芯片(20)的固定件(10)的绕线检查方法中，具有：第二取得工序(步骤ST8)，其是取得芯片(20)的绕线后的图像的工序；第二提取工序(步骤ST9)，其是从图像进行卷绕于芯片(20)的绕线线圈(1)的轮廓数据的提取的工序；以及第二判定工序(步骤ST12)，根据绕线线圈(1)的轮廓数据对绕线线圈(1)是否合格进行判定。

技术领域

本发明涉及在将向旋转电机供给的多个芯片排列为环状的所谓集中卷绕的固定件中对绕线状态进行检查的绕线检查方法及绕线检查装置。

背景技术

在旋转电机的定子制造工序中，在绕线工序中需要将线圈在各层中等间隔地排列而卷绕，为了对绕线不合格、有无异常进行检查而实施了绕线后的线圈目视检查、耐压检查。但是，目视检查具有“检查时间存在能力差”、“检查结果存在个人差”等问题。

为了解决该问题，现有的绕线检查方法及绕线检查装置公开了下述技术，即，在将电线、线缆等卷绕于卷筒的方法中，对卷绕状态的图像进行处理而对卷绕点进行检测，将卷绕点处的跳起、跃起等卷绕异常进行数量化而掌握(例如，参照专利文献1)。

另外，公开了下述绕线装置，即，在紧接绕线工序之后独立于绕线装置而设置线圈外形检查装置，对卷绕于定子芯的绕线线圈的卷绕外形的大小进行判别，对是否合格进行判定(例如，参照专利文献2)。

专利文献1：日本专利第3275276号(0007～0016段、图1～图11)

专利文献2：日本专利第4670789号(0015～0049段、图1～图11)

发明内容

现有的绕线检查方法及绕线检查装置，

作为对构成旋转电机的固定件实施绕线的方法，具有预先形成线圈而向被称为固定件的狭槽的槽插入的分布卷绕方式、和对各个芯片实施直接绕线的集中卷绕方式。相对于分布卷绕方式，集中卷绕方式能够将线圈的周长大幅地缩短，因此能够将粗的电线高密度地卷绕而减少绕线电阻，与分布卷绕方式的旋转电机相比较，电动机效率高。

因此，空调及冷库用的压缩机的电动机、能够使转速变化的逆变器电动机等各种旋转电机大多是集中卷绕方式。特别地，容量几十～几千瓦的电动机的主流是集中卷绕方式。在该集中卷绕方式中为了提高生产率，用于进行卷绕的旋转速度是以大于或等于千rpm的高速进行的。固定件的各个芯片实施绕线的部位是四角剖面，从卷绕的轴观察的线圈形状也是长方形，是所谓的异形线轴。

基于该背景，在应用上述专利文献1的情况下，由于异形线轴旋转，因此卷绕的线的位置每旋转一周而向2个方向移动，在此基础上绕线的旋转速度高，因此追随卷绕的线的位置即测量点而使照相机驱动，对卷绕状态的图像进行处理而检测卷绕点，存在将卷绕点处的跳起、跃起等卷绕异常进行数量化和本身困难的问题。

针对该课题，在上述专利文献2中，提出了对实施绕线后的线圈外形进行检查的方法。但是，关于对排列为圆形的相邻的线圈的间隙进行测量的方法，仅能够在对固定件的芯片全部实施绕线，且使用将芯片排列、在固定件的外周热压配合中空的壳体等手段而进行嵌合，将固定件进行卡止的工序以后实施。由此，在该阶段检测到不合格的情况下，难以将不合格的线圈从芯片去除。不得不将存在不合格的线圈的固定件本身废弃。

由此，虽然作为经过最终工序后的产品的不合格率能够减少，但存在没有提高生产率这样的问题。

本发明就是为了解决上述这样的课题而提出的，其目的在于提供能够在作为固定件形成前对芯片的绕线不合格进行判定的绕线检查方法及绕线检查装置。

本发明的绕线检查方法，是将绕线线圈形成于芯片的固定件的绕线检查方法，

在该绕线检查方法中，具有：

第二取得工序，其是取得所述芯片的绕线后的图像的工序；