[发明专利]向一次性编程数据提供安全性的系统和方法有效
申请号: | 201780024034.6 | 申请日: | 2017-03-17 |
公开(公告)号: | CN109074850B | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | A·科塔;允思相;B·库本德兰 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G11C17/14 | 分类号: | G11C17/14;G06F21/78 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;李春辉 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一次性 编程 数据 提供 安全性 系统 方法 | ||
1.一种系统,包括:
处理芯片,其具有:
一次性编程OTP存储器部分,所述OTP存储器部分存储安全数据和校验模式,所述安全数据和所述校验模式被存储在多个字内,其中,每个字包括安全数据位和校验模式位;以及
多个感测放大器,所述感测放大器中的每个感测放大器对应于所述OTP存储器部分的相应列,并且所述字中的每个字对应于所述OTP存储器部分的相应行,其中,所述多个感测放大器包括:所述感测放大器的与存储所述校验模式的列相对应的子集,所述感测放大器的所述子集中的每个感测放大器包括多个可选择的参考电阻。
2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述OTP存储器部分包括熔丝存储器阵列。
3.根据权利要求1所述的系统,其中,所述OTP存储器部分以多个行和列来布置,另外其中,所述校验模式被存储在所述OTP存储器部分的开头列和结尾列中。
4.根据权利要求1所述的系统,其中,所述OTP存储器部分的所述列的第一子集存储所述校验模式,并且其中,所述OTP存储器部分的所述列的第二子集存储所述安全数据;以及
在所述感测放大器处的多个使能输入,所述使能输入与共同使能信号连通。
5.根据权利要求1所述的系统,其中,所述OTP存储器部分的所述列的第一子集存储所述校验模式,并且其中,所述OTP存储器部分的所述列的第二子集存储所述安全数据;并且所述系统还包括:
多个触发器,所述多个触发器被配置为从所述感测放大器中的相应感测放大器捕获数据,其中,所述触发器共享共同时钟信号。
6.根据权利要求1所述的系统,还包括:
以字线和位线布置的多个存储器元件,其中,所述位线共享共同电源。
7.根据权利要求1所述的系统,其中,所述安全数据包括以下中的至少一项:
用于所述处理芯片的配置数据;
用于所述处理芯片的硬件密钥;
启动只读存储器ROM补丁;以及
制造者信息。
8.根据权利要求1所述的系统,其中,所述校验模式包括逐行偏移的二进制一和零的模式。
9.一种方法,包括:
从处理芯片的一次性编程OTP存储器读取多个字,其中,所述字中的每个字包括用于所述芯片的安全数据和对应于校验模式的位;
将对应于所述校验模式的所述位与预编程的校验模式进行比较;
基于将对应于所述校验模式的所述位与所述预编程的校验模式进行比较,来检测错误;以及
响应于检测到所述错误,由所述处理芯片执行动作,其中,从所述OTP存储器读取所述多个字包括针对每个相应字的以下动作:
使能用于所述字的每个位的相应比较器;以及
针对所述比较器中与所述校验模式的位对应的比较器,基于正被读取的位的地址来选择参考电压。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,执行所述动作包括以下中的至少一项:
标记所述错误;
发出中断;以及
暂停所述处理芯片的硬件。
11.根据权利要求9所述的方法,其中,读取所述多个字是在所述处理芯片启动时被执行的。
12.根据权利要求9所述的方法,其中,读取所述多个字是在所述处理芯片的成功启动之后被执行的。
13.根据权利要求9所述的方法,其中,从所述OTP存储器读取所述多个字包括针对每个相应字的以下动作:
使能用于所述字的每个位的相应比较器,其中,所述比较器共享共同使能信号,其中,所述比较器的第一子集对应于存储所述校验模式的位的列,并且所述比较器的第二子集对应于存储所述安全数据的位的列。
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