[发明专利]铜合金压延材及其制造方法以及电气电子部件在审

专利信息
申请号: 201780024643.1 申请日: 2017-06-29
公开(公告)号: CN109072342A 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 川田绅悟;樋口优;藤井惠人;小林良聪 申请(专利权)人: 古河电气工业株式会社
主分类号: C22C9/06 分类号: C22C9/06;C22C9/00;C22C9/02;C22C9/04;C22C9/05;C22C9/10;C22F1/08;H01B1/02;H01B5/02;C22F1/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 玉昌峰;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 压延方向 铜合金 压延材 电气电子部件 正交的 平行 粗糙度曲线 最大峰高 最大谷深 镀覆 制造
【权利要求书】:

1.一种铜合金压延材,与压延方向正交的方向上的最大高度Rz为0.1μm以上且3μm以下,与压延方向正交的方向上的最大谷深Rv对最大峰高Rp的比Rv/Rp为1.2以上且2.5以下,与压延方向平行的方向上的最大高度Rz为0.1μm以上且3μm以下,与压延方向平行的方向上的粗糙度曲线元素的平均宽度RSm为0.02mm以上且0.08mm以下。

2.根据权利要求1所述的铜合金压延材,其中,

所述铜合金压延材由如下铜合金构成:包含1质量%以上且5质量%以下的镍和0.5质量%以上且2.5质量%以下的钴中的至少一者以及0.1质量%以上且1.5质量%以下的硅,剩余部分由铜及不可避免的杂质构成。

3.根据权利要求1所述的铜合金压延材,其中,

所述铜合金压延材由如下铜合金构成:包含1质量%以上且5质量%以下的镍和0.5质量%以上且2.5质量%以下的钴中的至少一者以及0.1质量%以上且1.5质量%以下的硅,并且还包含大于0质量%且小于等于0.5质量%的镁、大于0质量%且小于等于1质量%的锡、大于0质量%且小于等于1.5质量%的锌、大于0质量%且小于等于0.5质量%的锰和大于0质量%且小于等于1.5质量%的铬中的至少一者,剩余部分由铜及不可避免的杂质构成。

4.根据权利要求1所述的铜合金压延材,其中,

所述铜合金压延材由如下铜合金构成:包含0.05质量%以上且1.5质量%以下的铬、0.01质量%以上且0.2质量%以下的锆和0.01质量%以上且3.5质量%以下的钛中的至少一者,剩余部分由铜及不可避免的杂质构成。

5.根据权利要求1所述的铜合金压延材,其中,

所述铜合金压延材由如下铜合金构成:包含0.05质量%以上且1.5质量%以下的铬、0.01质量%以上且0.2质量%以下的锆和0.01质量%以上且3.5质量%以下的钛中的至少一者,并且还包含大于0质量%且小于0.1质量%的硅、大于0质量%且小于等于0.5质量%的镁、大于0质量%且小于等于1质量%的锡、大于0质量%且小于等于1.5质量%的锌、大于0质量%且小于等于0.5质量%的锰、大于0质量%且小于等于0.5质量%的铁、大于0质量%且小于等于1质量%的银、大于0质量%且小于等于2质量%的钴和大于0质量%且小于等于1质量%的镍中的至少一者,剩余部分由铜及不可避免的杂质构成。

6.一种铜合金压延材的制造方法,对由铜合金构成的坯料进行压延来制造铜合金压延材,其中,

所述铜合金压延材的制造方法具备精压延工序,在所述精压延工序中,以20%以上的加工率进行精压延,以使得所得到的铜合金压延材的表面满足以下四个所有条件A、B、C、D,

条件A:与压延方向正交的方向上的最大高度Rz为0.1μm以上且3μm以下,

条件B:与压延方向正交的方向上的最大谷深Rv对最大峰高Rp的比Rv/Rp为1.2以上且2.5以下,

条件C:与压延方向平行的方向上的最大高度Rz为0.1μm以上且3μm以下,

条件D:与压延方向平行的方向上的粗糙度曲线元素的平均宽度RSm为0.02mm以上且0.08mm以下。

7.一种电气电子部件,具备权利要求1至5中任一项所述的铜合金压延材。

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