[发明专利]在光电装置上产生图像的方法在审

专利信息
申请号: 201780025985.5 申请日: 2017-03-23
公开(公告)号: CN109643520A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: P·特雷弗纳斯三世;赵诚龙;K·德什潘德;T·埃韦斯;E·格里尔;J·朱;金奉勋;欧纳瑞;朴钟根;M·西姆;张洁倩 申请(专利权)人: 陶氏环球技术有限责任公司;罗门哈斯公司;伊利诺伊大学评议会;罗门哈斯电子材料有限责任公司
主分类号: G09G3/3208 分类号: G09G3/3208;G06F3/038
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 胡嘉倩;陈哲锋
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 光电元件 反向偏压 电路 光电元件阵列 正向偏压 光电流 配置 图像 光电装置 提供装置 量子点 纳米棒 施加 检测 响应
【说明书】:

提供了一种在光电元件阵列上产生图像的方法,其包含:(a)提供装置,其包含光电元件阵列和连接到每个光电元件的电路,其中所述光电元件包含多个量子点或多个纳米棒,且其中所述电路被配置为能够在有效正向偏压配置和有效反向偏压配置之间独立地切换各光电元件,(b)对两个或更多个所述光电元件施加有效反向偏压,(c)提供电路,所述电路将检测来自单个有效反向偏压的光电元件的光电流的开始,并且通过将所述单个光电元件上的所述偏压改变为有效正向偏压来响应所述光电流。

一些光电装置含有两个或更多个光电元件。在一些光电装置中,一个或多个光电元件(发射元件)被配置为在施加适当的电场时发光,而其它光电元件(吸收元件)被配置为在被具有在适当波长范围的波长的光击中时产生电流。通常期望吸收元件对穿过装置外部的空间然后击中装置的光做出响应。在这种情况下,不期望发射元件发射的光沿着装置本身内的路径行进并到达吸收元件。另外,期望吸收元件在被光击中时快速做出响应以产生光电流(即,上升时间短)。

US 2014/0036168描述了一种有机发光二极管阵列,该阵列可用于光感测以及发光功能。期望提供一种改进的装置,其中来自发光二极管的光并不通过沿着完全位于装置内的路径到达吸收二极管。还期望提供具有改进的上升时间的光电装置。改进的装置期望用于各种目的,包括检测装置外部的物体;检测来自特定装置(如光笔或激光指示器)的光;以及产生与光笔或激光指示器描绘的路径相对应的图像。

以下是本发明的发明内容。

本发明的第一方面是一种包含发光的光电元件和产生光电流的光电元件的装置,其中该装置还包含不透明元件,该不透明元件防止由发光的光电元件发射的光通过装置内的路径到达产生光电流的光电元件。

本发明的第二方面是一种光电装置,其包含光电元件和连接到光电元件的电路,

其中所述光电元件包含多个量子点或多个纳米棒,且

其中所述电路被配置为能够在其中所述电路提供能使光电元件发光的有效正向偏压的一个配置和其中所述电路提供当光电元件敏感的光击中光电元件时使光电元件能够产生光电流的有效的反向偏压的另一个配置之间切换光电元件。

本发明的第三方面是一种检测光电装置附近的物体的存在的方法,包含:

(a)提供一种光电装置,其包含发光的光电元件和产生光电流的光电元件,

其中所述装置被配置为使得由所述发光的光电元件发射的某一光离开光电装置,

其中所述装置被配置为使得离开光电装置并且被外部物体散射或反射的由发光的光电元件发射的光可击中产生光电流的光电元件,

(b)在发光的光电元件上施加有效的正向偏压,并且在产生光电流的光电元件上施加有效的反向偏压,

(c)使能够散射或反射或能够散射且反射光的物体与光电装置表面上光出现的点相距0.1至5mm,使由发光的光电元件发射的光被反射或散射,从而使得光落在产生光电流的光电元件上。

本发明的第四方面是一种检测光电装置附近的物体的存在的方法,其包含:

(a)在光电装置外部产生的外部光落在光电装置上的环境中,提供一种光电装置,该光电装置包含产生光电流的光电元件,

(b)在产生光电流的光电元件上施加有效的反向偏压,其中具有合适波长和足够强度的外部光使产生光电流的光电元件产生光电流,以及

(c)使不透明物体与光电装置表面上的点相距0.1至5mm,使不透明物体阻挡足够的外部光线,从而使得由产生光电流的光电元件产生的光电流出现可检测的减少。

本发明的第五方面是一种在光电元件阵列上产生图像的方法,其包含:

(a)提供一种装置,其包含光电元件阵列和连接到每个光电元件的电路,

其中所述光电元件包含多个量子点或多个纳米棒,且

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