[发明专利]用于将建造数据集中的位置与设备的构造部段中的位置相关联的设备和方法有效
申请号: | 201780026312.1 | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN109070222B | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 克里斯多夫·施滕格尔;丹尼尔·艾伯茨;迪特尔·施瓦策;托尼·亚当·克洛尔 | 申请(专利权)人: | SLM方案集团股份公司 |
主分类号: | B22F3/105 | 分类号: | B22F3/105;B33Y30/00;B33Y50/00;G05B19/4097;G01J5/02;G05B19/409;B22F7/02;G01N21/88;G01B11/24;G06T7/00 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 浦彩华;姚开丽 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 建造 数据 集中 位置 设备 构造 中的 相关 方法 | ||
1.一种设备,用于将建造数据集中的位置与所述设备的构造部段(12)中的位置相关联,所述设备包括:
用于生成三维工件的构造部段(12),所述构造部段被配置为接收基础元件(101),所述基础元件包括边界表面(104);
照射单元(18),所述照射单元被配置为生成辐射束(22)并且使所述辐射束(22)在预定扫描场(302)上扫描,其中,所述预定扫描场(302)包括所述基础元件(101)的所述边界表面(104)的至少一部分;
检测单元(39),所述检测单元被配置为:当使所述辐射束(22)在所述预定扫描场(302)上扫描时,检测在所述辐射束(22)的光斑位置(13)处发射的电磁辐射的时间相关的电磁辐射强度;以及
控制器(36),所述控制器被配置为:
将检测到的电磁辐射强度与指示所述辐射束(22)的当前位置的位置信息相关联;
基于所述检测到的时间相关的电磁辐射强度的强度变化并且基于指示所述辐射束(22)的当前位置的所述位置信息来确定所述基础元件(101)的所述边界表面(104)关于所述预定扫描场(302)的位置,使得将随时间的突然的强度变化识别为对应于所述边界表面(104)的边缘;
基于所述边界表面(104)的所确定位置来将建造数据集中的位置与所述构造部段(12)中的位置相关联;以及
将由所述建造数据集限定的添加元件(103)的添加边界表面(105)的位置与所述基础元件(101)的所述边界表面(104)的所确定位置相关联。
2.根据权利要求1所述的设备,其中,所述检测单元(39)被配置为依据所述辐射束(22)的光斑位置(13)来检测所述电磁辐射强度,并且被配置为输出指示所述辐射束(22)的当前位置的所述位置信息。
3.根据权利要求1所述的设备,其中,所述控制器(36)被配置为基于输入到所述照射单元(18)中的辐射位置信息来确定指示所述辐射束(22)的当前位置的所述位置信息。
4.根据权利要求1所述的设备,其中,所述设备被配置为通过考虑所述建造数据集中的位置与所述构造部段(12)中的位置之间的关联来将添加元件(103)生产到所述基础元件(101)上,所述添加元件(103)的添加边界表面(105)与所述基础元件(101)的所述边界表面(104)匹配。
5.根据权利要求4所述的设备,其中,所述设备被配置为使用所述照射单元(18)通过粉末床熔合来将所述添加元件(103)生成到所述基础元件(101)上。
6.根据权利要求1所述的设备,其中,所述控制器(36)被配置为:
基于所检测到的电磁辐射强度和相关联的位置信息来生成二维图像;
通过使用图像处理来识别所述二维图像中所述基础元件(101)的所述边界表面(104)的边缘;以及
基于所识别的边缘来确定所述基础元件(101)的所述边界表面(104)关于所述预定扫描场(302)的位置。
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