[发明专利]显示装置和电子设备有效
申请号: | 201780027476.6 | 申请日: | 2017-04-20 |
公开(公告)号: | CN109315049B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 安部薰;山田二郎;寺本和真;年代健一;小林秀树;西村征起 | 申请(专利权)人: | 株式会社日本有机雷特显示器 |
主分类号: | H05B33/24 | 分类号: | H05B33/24;G09F9/30;H01L27/32;H01L51/50;H05B33/12;H05B33/22;H05B33/26 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 马强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 电子设备 | ||
本公开的一种显示装置具备多个像素。多个像素各自包括:第一电极;绝缘膜,形成在第一电极上,并且具有多个开口部;有机层,形成在绝缘膜的各个开口部,并且包含发光层;以及第二电极,形成在有机层上。第一电极具有多个子电极,多个子电极分别与绝缘膜的各个开口部对置。
技术领域
本公开涉及一种使用有机EL(electroluminescence)元件的显示装置以及具备该显示装置的电子设备。
背景技术
在有机EL显示装置中,如果在例如制造流程中,异物混入有机层;那么有可能阳极与阴极电气短路,从而产生被称作暗点的像素缺陷。提出了修复(repair)这样的短路部分的技术(例如专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2009-288735号公报
发明内容
然而,在上述专利文献1的手法中,在产生暗点的像素中,发光区域减半,亮度下降。
期望提供一种可以抑制起因于暗点的亮度下降而提高图像质量的显示装置。
本公开的一种实施方式的显示装置具备多个像素,多个像素各自包括:第一电极,包含多个子电极;绝缘膜,形成在第一电极上,并且具有分别与多个子电极对置的开口部;有机层,形成在绝缘膜的各个开口部,并且包含发光层;以及第二电极,形成在有机层上。
本公开的一种实施方式的电子设备具备上述本公开的一种实施方式的显示装置。
本公开的一种实施方式的其他显示装置具备多个像素,多个像素各自包括:第一电极,包含多个子电极;绝缘膜,形成在第一电极上,并且具有分别与多个子电极对置的开口部;至少一个发光层,形成在绝缘膜的各个开口部;以及第二电极,形成在发光层的上方。
在本公开的一种实施方式的显示装置和电子设备中,通过使第一电极包含多个子电极,在选择性像素中,即使起因于异物而第一电极和第二电极之间发生电气短路,也能够选择性地切断对应于该短路部分的子电极的一部分。
在本公开的一种实施方式的电子设备中,由上述本公开的一种实施方式的显示装置显示图像。
根据本公开的一种实施方式的显示装置和电子设备,在各个像素中,第一电极包含多个子电极,绝缘膜具有与各个子电极对置的开口部。在该开口部形成有有机层。由于该结构,即使在第一电极和第二电极之间发生电气短路的情况下,也能够选择性地切断对应于该短路部分的子电极的一部分,进行缺陷修复。也就是说,能够将暗点(像素缺陷)抑制在像素内的狭小的范围,从而将其他的正常部分与暗点部分物理地分离来作为发光区域。因此,与第一电极没有被分割的结构相比,可以有效地修复缺陷,能够更大地确保发光区域。因此,可以抑制起因于暗点的亮度下降而提高图像质量。
再有,不一定限定于这里所记载的效果,也可以是本公开中记载的任何一个效果。
附图说明
图1是表示本公开的一种实施方式的显示装置的整体结构的方框图。
图2是图1所示的像素的配置的示意图。
图3是表示图1所示的像素部的一部分的结构的截面图。
图4是表示图3所示的第一电极的结构例子的平面图。
图5是将图3所示的第一绝缘膜的结构与第一电极的结构一起表示的平面图。
图6是表示对应于图5的IB-IB线的结构的截面图。
图7是表示图3所示的开口部(反射结构)的详细结构的截面图。
图8是用于说明使用图4所示的第一电极的缺陷修复的模式图。
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