[发明专利]扫描天线及扫描天线的制造方法有效

专利信息
申请号: 201780031842.5 申请日: 2017-05-19
公开(公告)号: CN109196716B 公开(公告)日: 2021-01-01
发明(设计)人: 大竹忠;箕浦洁;中泽淳;大类贵俊;中村涉 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01Q3/34 分类号: H01Q3/34;H01Q3/44;H01Q13/22;H01Q21/06
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 汪飞亚;习冬梅
地址: 日本国大*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 扫描 天线 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种扫描天线,其排列有多个天线单位,所述扫描天线的特征在于,具有:

TFT基板,其具有第一电介质基板、由所述第一电介质基板支撑的多个TFT、多个栅极总线、多个源极总线、以及多个贴片电极;

缝隙基板,其具有第二电介质基板、和形成于所述第二电介质基板的第一主面上的缝隙电极;

液晶层,其设置在所述TFT基板与所述缝隙基板之间;以及

反射导电板,其以隔着电介质层与所述第二电介质基板的所述第一主面相反侧的第二主面相对的方式配置,

所述缝隙电极具有与所述多个贴片电极对应配置的多个缝隙,所述多个贴片电极分别连接到对应的TFT的漏极,

在所述多个缝隙的各个所述缝隙内形成有低介电损耗物质层,相较于构成所述液晶层的液晶材料,所述低介电损耗物质层由相对于微波的介电损耗小的物质构成。

2.根据权利要求1所述的扫描天线,其特征在于,

从基板法线观察所述第二电介质基板时,所述第二电介质基板的存在于所述多个缝隙的各个所述缝隙内的部分具有凹部。

3.根据权利要求2所述的扫描天线,其特征在于,

所述低介电损耗物质层也形成在所述凹部内。

4.根据权利要求1~3中的任一项所述的扫描天线,其特征在于,

所述低介电损耗物质层由氟素树脂形成。

5.一种扫描天线,其排列有多个天线单位,所述扫描天线的特征在于,具有:

TFT基板,其具有第一电介质基板、由所述第一电介质基板支撑的多个TFT、多个栅极总线、多个源极总线、以及多个贴片电极;

缝隙基板,其具有第二电介质基板、和形成于所述第二电介质基板的第一主面上的缝隙电极;

液晶层,其设置在所述TFT基板与所述缝隙基板之间;以及

反射导电板,其以隔着电介质层与所述第二电介质基板的所述第一主面相反侧的第二主面相对的方式配置,

所述缝隙电极具有与所述多个贴片电极对应配置的多个缝隙,所述多个贴片电极分别连接到对应的TFT的漏极,

从基板法线观察所述第二电介质基板时,所述第二电介质基板的存在于所述多个缝隙的各个所述缝隙内的部分具有凹部。

6.根据权利要求5所述的扫描天线,其中,

在所述凹部形成有低介电损耗物质层,所述低介电损耗物质层由相对于微波的介电损耗小于构成所述液晶层的液晶材料的物质构成。

7.根据权利要求6所述的扫描天线,其中,

所述低介电损耗物质层由氟素树脂形成。

8.一种扫描天线的制造方法,是权利要求5~7中的任一项所述的扫描天线的制造方法,其中,含有:

在所述第二电介质基板上沉积金属膜的工序;

在所述金属膜之上形成具有与所述多个缝隙对应的多个开口部的抗蚀剂层的工序;

将所述抗蚀剂层作为掩模,对所述金属膜进行蚀刻,由此形成具有所述多个缝隙的所述缝隙电极的工序;以及

将所述抗蚀剂层和所述缝隙电极作为掩模,对所述第二电介质基板进行蚀刻,由此在与所述多个缝隙对应的位置形成多个凹部的工序。

9.根据权利要求8所述的扫描天线的制造方法,其中,包含:

向所述多个凹部内施加包含低介电损耗聚合物的溶液的工序;以及

对所述多个凹部内的所述溶液进行加热的工序。

10.根据权利要求9所述的扫描天线的制造方法,其中,

所述低介电损耗聚合物包含氟素树脂。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780031842.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top