[发明专利]光检测装置以及电子设备

权利要求书

1.一种光检测装置，其特征在于，包括：

发光部，其由控制部控制，以出射规定的光脉冲数的第一光；

第一SPAD阵列，其供所述第一光入射，且以盖革模式工作；

第二SPAD阵列，其供所述第一光由检测对象物反射所得的第二光入射，且以所述盖革模式工作；

电压产生部，其通过电源对所述第一SPAD阵列及所述第二SPAD阵列施加反向偏置电压；

脉冲计数器，其对所述第一SPAD阵列输出的脉冲信号的信号脉冲数进行计数；

判断部，其接收所述规定的光脉冲数和所述信号脉冲数，并判断所述规定的光脉冲数与所述信号脉冲数的大小；以及

电压调整部，其在由所述判断部判断为所述信号脉冲数比所述规定的光脉冲数少的期间内，阶段性地使所述反向偏置电压上升，在由所述判断部判断为所述信号脉冲数为所述光脉冲数以上的情况下，视为所述反向偏置电压达到了击穿电压，以使所述第一SPAD阵列及所述第二SPAD阵列在所述盖革模式下动作的方式，使所述反向偏置电压上升为所述击穿电压和过电压的合计值，所述过电压为所述电源的电压与所述击穿电压之差。

2.根据权利要求1所述的光检测装置，其特征在于，

所述电压调整部在所述发光部出射所述第一光的期间使所述反向偏置电压上升。

3.根据权利要求1所述的光检测装置，其特征在于，

使所述反向偏置电压上升时所述发光部出射的光的发光强度比测量所述光检测装置与所述检测对象物的距离时所述发光部出射的光的发光强度弱。

4.根据权利要求1所述的光检测装置，其特征在于，

主动淬灭电路连接于所述第一SPAD阵列及所述第二SPAD阵列，在所述电压调整部使所述反向偏置电压上升之前，所述主动淬灭电路的电阻值已得到调整。

5.根据权利要求4所述的光检测装置，其特征在于，

在测量与所述检测对象物的距离时之前，进行所述主动淬灭电路的电阻值的调整及由所述电压调整部执行的所述反向偏置电压的上升。

6.一种电子设备，其特征在于，

包括权利要求1至5中任一项权利要求所述的光检测装置。