[发明专利]适于提供额外的颜色信息的光电检测器在审
申请号: | 201780033341.0 | 申请日: | 2017-05-31 |
公开(公告)号: | CN109479107A | 公开(公告)日: | 2019-03-15 |
发明(设计)人: | J·W·莱德;J·E·克劳奇;A·M·麦格纳尼 | 申请(专利权)人: | BAE系统成像解决方案有限公司 |
主分类号: | H04N5/378 | 分类号: | H04N5/378;H04N5/353;H04N5/374;G02B3/00 |
代理公司: | 北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216 | 代理人: | 刘卓然 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光转换 光电检测器 主光电二极管 像素传感器 波长 浮动扩散节点 光电二极管 寄生 测量光信号 彩色图像 颜色信息 控制器 波长带 入射 场景 | ||
1.一种装置,包括多个像素传感器,每个该像素传感器包括第一光电检测器,该第一光电检测器包括:
第一主光电二极管,其特征在于具有第一光转换效率,该第一光转换效率是入射在其上的光信号的波长的函数;和
第一浮动扩散节点,包括第一寄生光电二极管,其特征在于具有第二光转换效率,该第二光转换效率是所述波长的函数,所述第二光转换效率不同于作为波长函数的所述第一光转换效率,所述第一浮动扩散节点也被所述光信号照亮;
所述装置还包括控制器,该控制器利用所述光电检测器中的所述第一主光电二极管和所述第一寄生光电二极管中的每一个对所述光信号的测量,从而生成在该像素传感器的多个波长带的每一个中的光强度。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第二光转换效率大于所述第一光转换效率的百分之三。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第二光转换效率大于所述第一光转换效率的百分之十。
4.如权利要求1所述的装置,还包括多个第二光电检测器,每个该像素传感器与所述多个第二光电检测器中的一个相关联,所述第二光电检测器具有第二主光电二极管,其具有第三光转换效率,该第三光转换效率是所述波长的函数,所述第三光转换效率与所述第一和第二光转换效率不同,所述第二光电二极管提供所述光信号的第三测量,所述控制器使用所述第三测量从而在所述多个波段中生成所述光强度。
5.如权利要求4所述的装置,其中对于每个所述像素传感器存在一个所述第二光电检测器。
6.如权利要求4所述的装置,其特征在于,所述第二光电检测器比所述像素传感器少,所述第二光电检测器中的至少一个由多个所述像素传感器共享。
7.如权利要求6所述的装置,其中所述控制器内插来自多个所述第二光电检测器的强度测量结果以到达所述第三测量。
8.如权利要求4所述的装置,其中每个第二光电检测器还包括与所述第一浮动扩散节点分开的第二浮动扩散节点,所述第二浮动扩散节点包括第二寄生光电二极管,所述控制器使用来自所述第二寄生光电二极管的信号来生成在所述多个波段中的每一个中的所述强度。
9.一种用于生成包括多个彩色像素的场景的彩色图像的方法,所述方法包括:
在像素传感器阵列上投影所述场景的图像,每个像素传感器生成所述彩色图像的一个颜色像素,每个像素传感器包括第一光电检测器,该第一光电检测器包括:
第一主光电二极管,其特征在于具有第一光转换效率,该第一光转换效率是入射在所述像素传感器上的光信号的波长的函数;和
第一浮动扩散节点,包括第一寄生光电二极管,其特征在于具有第二光转换效率,该第二光转换效率是所述波长的函数,所述第二光转换效率不同于作为波长函数的所述第一光转换效率,所述第一浮动扩散节点也被所述光信号照亮;
从每个所述像素传感器中的所述第一主光电二极管和所述第一浮动扩散节点生成每个像素传感器的第一和第二光强度值;
利用具有第三光转换效率的多个第二光电检测器中的相应一个,生成对应于每个所述像素传感器的第三光强度值,该第三光转换效率是波长的函数,所述第二光电检测器具有第三光转换效率,该第三光转换效率是波长的函数,所述第三光转换效率不同于第一和第二光转换效率;并且
利用对应于该像素的所述第一、第二和第三光强度值生成每个颜色像素。
10.如权利要求9所述的方法,其中所述第二光电检测器是每个像素传感器的一部分。
11.如权利要求9所述的方法,其中所述多个第二光电检测器包括由多个所述像素传感器共享的一个第二光电检测器。
12.如权利要求9所述的方法,其特征在于,内插来自所述多个第二光电检测器中的两个或更多个的强度值以到达所述像素传感器之一的所述第三光强度值。
13.如权利要求9所述的方法,其中每个第二光电检测器包括第二浮动扩散节点,所述第二浮动扩散节点包括第二寄生光电二极管,并且其中来自所述第二寄生光电二极管的光强度值也用于生成所述彩色像素。
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