[发明专利]CVD涂层切削工具

权利要求书

1.一种涂层切削工具，所述涂层切削工具包括基材和涂层，其中所述涂层包括至少一个通过化学气相沉积(CVD)沉积的厚度为1-20μm的α-Al₂O₃层，其中所述α-Al₂O₃层具有X射线衍射图，其中织构系数TC(h k l)是根据Harris公式定义的

其中所用的(h k l)反射是(1 0 4)、(1 1 0)、(1 1 3)、(0 2 4)、(1 1 6)、(2 1 4)、(30 0)和(0 0 12)，

I(h k l)＝所述(h k l)反射的测量强度，

l₀(h k l)＝根据ICDD的00-10-0173号PDF卡的标准强度，

n＝8，

其特征在于1<TC(0 2 4)<4且3<TC(0 0 12)<6。

2.根据权利要求1所述的涂层切削工具，其中所述α-Al₂O₃层显示1<TC(0 2 4)<3且3.5<TC(0 0 12)<5.5。

3.根据权利要求1所述的涂层切削工具，其中所述α-Al₂O₃层显示1.5<TC(0 2 4)<2.5且4<TC(0 0 12)<5。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的涂层切削工具，其中所述α-Al₂O₃层的第三强的TC(h k l)是TC(1 1 0)。

5.根据前述权利要求中的任一项所述的涂层切削工具，其中所述α-Al₂O₃层具有通过EBSD在所述α-Al₂O₃层的平行于所述涂层的外表面的一部分中测量的{0 0 1}极图，其中在与所述涂层的外表面的法线为0°≤β≤90°的倾斜角范围内，在取向差角大小为0.25°下，基于所述极图的数据的极点图示出在β≤15°倾斜角内的强度与在0°≤β≤90°内的强度的比≥40％，

并且其中所述α-Al₂O₃层具有通过EBSD在所述α-Al₂O₃层的平行于所述涂层的外表面的一部分中测量的{0 1 2}极图，其中在与所述涂层的外表面的法线为0°≤β≤90°的倾斜角范围内，在取向差角大小为0.25°下，基于所述极图的数据的极点图示出在β≤15°倾斜角内的强度与在0°≤β≤90°内的强度的比≥40％。

6.根据权利要求5所述的涂层切削工具，其中所述{0 0 1}极图和所述{0 1 2}极图来自所述α-Al₂O₃层的同一部分。

7.根据前述权利要求中的任一项所述的涂层切削工具，其中所述α-Al₂O₃层包含柱状晶粒。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的涂层切削工具，其中所述α-Al₂O₃层包含柱状α-Al₂O₃层晶粒，并且其中沿着在所述α-Al₂O₃层中间部位的与所述基材的表面平行的线测量，所述柱状晶粒的平均宽度是0.5-2μm。

9.根据前述权利要求中的任一项所述的涂层切削工具，其中所述α-Al₂O₃层的平均厚度为2-10μm。