[发明专利]图像获取装置和图像获取方法有效
申请号: | 201780036084.6 | 申请日: | 2017-12-21 |
公开(公告)号: | CN109313078B | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 阳光 | 申请(专利权)人: | 深圳配天智能技术研究院有限公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/18 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 李庆波 |
地址: | 518063 广东省深圳市南山区粤海街道高*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 获取 装置 方法 | ||
本发明公开了一种图像获取装置和图像获取方法。图像获取装置包括衍射光学元件、电振镜、线阵传感器,其中,所述电振镜设置在所述衍射光学元件的出射光的传输路径上,线阵传感器设置于电振镜的反射光的传输路径上,其特征在于,所述衍射光学元件用于接收检测对象的反射光线,将所述反射光线分解为多个子波段光束,并将子波段光束通过出射面射出;电振镜用于接收子波段光束,并将子波段光束进行反射;线阵传感器用于接收电振镜反射的子波段光束的频谱信息,并根据子波段光束的频谱信息合成检测对象的图像信息,其中,线阵传感器的检测频率与电振镜的振动频率相同。本发明的图像获取装置能够降低图像获取成本,提高用户体验度。
技术领域
本发明涉及工业视觉领域,特别是涉及图像获取装置和图像获取方法。
背景技术
在工业领域进行物体识别时,一种方式是模式匹配。基于物体的二维图像与模板图像进行匹配,从而获取待检测对象的种类。另一种方式是频谱分析,通过获取物体的高光谱图像并根据该高光谱图像分析物体的反射率随波长变化的曲线得到物体的类别。两者相比,模式匹配中获取物体二维图像使用的设备简单,价格低廉,但根据获取的二维图像进行模式匹配时,只能对外型变化不大的物体进行检测,比如物体发生折卷、缺失、甚至外包装变化等外型变化就极易出现无法识别或识别错误的情况;频谱分析中根据获取的高光谱图像可以准确得到待测物体的元素含量进而分析出物体的种类,但对物体的外形区分困难。并且传统的获取物体高光谱图像的光谱测量仪由众多光学、电学与机械等分立器件组成,需要极其复杂的光路系统与精密机械结构,降低了整个仪器的可靠性,对仪器工作、存放环境也有着严格的要求,成本高,难以应用在工业领域。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种图像获取装置和图像获取方法,能够获取模式匹配和频谱分析两种识别方式所需要的两种图像,降低图像获取成本,可以应用在工业领域。
为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是:提供一种图像获取装置,所述图像获取装置包括衍射光学元件、电振镜、线阵传感器,其中,所述电振镜设置在所述衍射光学元件的出射光的传输路径上,所述线阵传感器设置于所述电振镜的反射光的传输路径上,所述衍射光学元件用于接收检测对象的反射光线,将所述反射光线分解为多个子波段光束,并将所述子波段光束通过出射面射出;所述电振镜用于接收所述子波段光束,并将所述子波段光束进行反射;所述线阵传感器用于接收电振镜反射的子波段光束的频谱信息,并根据所述子波段光束的频谱信息合成所述检测对象的图像信息,其中,所述线阵传感器的检测频率与所述电振镜的振动频率相对应。
为解决上述技术问题,本发明采用的另一个技术方案是:提供一种图像获取方法,所述图像获取方法包括:图像获取装置通过其衍射光学元件接收检测对象的反射光线,将所述反射光线分解为多个子波段光束,并将所述子波段光束通过出射面射出;通过电振镜接收所述子波段光束,并将所述子波段光束进行反射;其中,所述电振镜设置在所述衍射光学元件的出射光的传输路径上;通过线阵传感器接收电振镜反射的子波段光束的频谱信息,并根据所述子波段光束的频谱信息合成所述检测对象的图像信息,其中,所述线阵传感器设置于所述电振镜的反射光的传输路径上,所述线阵传感器的检测频率与所述电振镜的振动频率相对应。
本发明的有益效果是:区别于现有技术的情况,本发明在检测对象通过编码传送装置运动时,利用衍射光学元件将待检测对象的反射光束分解为子波段光束,通过振动的电振镜将子波段光束反射给线阵传感器,线阵传感器接收电振镜反射的子波段光束,并根据该子波段光束形成检测对象的图像。本发明能够获取模式匹配和频谱分析两种识别方式所需要的图像,并将其应用到工业物体识别领域,降低了图像获取成本,提高用户体验度。
附图说明
图1是本发明图像获取装置一实施例的结构示意图;
图2是本发明图像获取方法一实施例的流程示意图。
具体实施方式
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