[发明专利]线材、钢线及部件有效

专利信息
申请号: 201780037106.0 申请日: 2017-07-05
公开(公告)号: CN109312436B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 小此木真;松井直树 申请(专利权)人: 日本制铁株式会社
主分类号: C22C38/00 分类号: C22C38/00;C22C38/14;C22C38/32;C21D8/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈建全
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 线材 部件
【权利要求书】:

1.一种线材,其特征在于,其以质量%计含有C:0.15~0.30%、Si:0.05~0.30%、Mn:0.50~1.50%、P:0.030%以下、S:0.030%以下、Al:0.005~0.060%、Ti:0.005~0.030%、B:0.0003~0.0050%、N:0.001~0.010%、剩余部分由Fe及不可避免的杂质构成,

其中,以面积率计金属组织的90%以上为贝氏体,在横截面中测定的表层的贝氏体的平均板条块粒径为15μm以下,在横截面中测定的表层的贝氏体的平均板条块粒径与在中心部测定的贝氏体的平均板条块粒径之比即(表层的贝氏体的平均板条块粒径)/(中心部的贝氏体的平均板条块粒径)的值低于1.0,并且分散于贝氏体中的渗碳体的平均粒径为0.1μm以下,

所述表层的贝氏体的平均板条块粒径是以下述方式得到的所述线材的表层中的贝氏体的平均板条块粒径:首先,在所述线材的横截面中,确定以从表层起向中心轴向为500μm的宽度而沿周向延伸500μm的区域,并特定出使该区域围绕所述中心轴每隔90°进行旋转而得到的4个区域,然后,对于这4个区域,对通过EBSD装置测定的板条块粒径进行平均,得到所述线材的表层中的贝氏体的平均板条块粒径,

所述中心部的贝氏体的平均板条块粒径是以下述方式得到的所述线材的中心部的贝氏体的平均板条块粒径:首先,在所述线材的横截面中,确定以中心轴为中心的500μm×500μm的区域,对该区域通过EBSD装置测定板条块粒径,接着,在不同的3个横截面中进行同样的测定后,对于4个样品对板条块粒径进行平均,得到所述线材的中心部的贝氏体的平均板条块粒径。

2.根据权利要求1所述的线材,其中,所述线材以质量%计进一步含有Cr:0~0.40%、Nb:0~0.03%、V:0~0.10%中的1种或2种。

3.一种钢线,其特征在于,其是被拉丝加工而成的钢线,其以质量%计含有C:0.15~0.30%、Si:0.05~0.30%、Mn:0.50~1.50%、P:0.030%以下、S:0.030%以下、Al:0.005~0.060%、Ti:0.005~0.030%、B:0.0003~0.0050%、N:0.001~0.010%、剩余部分由Fe及不可避免的杂质构成,

其中,以面积率计金属组织的90%以上为贝氏体,在钢线的表层中,在纵截面中测定的贝氏体的板条块晶粒的平均长宽比R为1.2~2.0,在横截面中测定的表层的贝氏体的平均板条块粒径为(15/R)μm以下,在横截面中测定的表层的贝氏体的平均板条块粒径与在中心部测定的贝氏体的平均板条块粒径之比即(表层的贝氏体的平均板条块粒径)/(中心部的贝氏体的平均板条块粒径)的值低于1.0,并且分散于贝氏体中的渗碳体的平均粒径为0.1μm以下,

所述表层的贝氏体的平均板条块粒径是以下述方式得到的所述钢线的表层中的贝氏体的平均板条块粒径:首先,在所述钢线的横截面中,确定以从表层起向中心轴向为500μm的宽度而沿周向延伸500μm的区域,并特定出使该区域围绕所述中心轴每隔90°进行旋转而得到的4个区域,然后,对于这4个区域,对通过EBSD装置测定的板条块粒径进行平均,得到所述钢线的表层中的贝氏体的平均板条块粒径,

所述中心部的贝氏体的平均板条块粒径是以下述方式得到的所述钢线的中心部的贝氏体的平均板条块粒径:首先,在所述钢线的横截面中,确定以中心轴为中心的500μm×500μm的区域,对该区域通过EBSD装置测定板条块粒径,接着,在不同的3个横截面中进行同样的测定后,对于4个样品对板条块粒径进行平均,得到所述钢线的中心部的贝氏体的平均板条块粒径。

4.根据权利要求3所述的钢线,其中,所述钢线以质量%计进一步含有Cr:0~0.40%、Nb:0~0.03%、V:0~0.10%中的1种或2种。

5.根据权利要求3或4所述的钢线,其临界压缩率为80%以上。

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