[发明专利]用于检查金属表面的方法和相关联的装置

权利要求书

1.一种用于检查零部件(13)的金属表面(12)的方法，所述方法包括以下步骤：

获得第一激光源(14)，所述第一激光源(14)设置为生成具有介于1000nm与1100nm之间的第一波长和大于1W的功率的第一激光束；

获得第二激光源(16)，所述第二激光源(16)设置为生成具有介于1500nm与1800nm之间的第二波长和大于1W的功率的第二激光束；

获得光学器件(18)，所述光学器件(18)包括用于激光束的入口(22)和设置为将所述激光束投射到所述金属表面上并且利用所述激光束(26)扫描所述金属表面(12)的装置；

启动所述第一和第二激光源中的一个激光源并且将所述第一或者第二激光束传输至所述光学器件的所述入口；

利用由所述光学器件所投射的所述第一或者第二激光束扫描所述金属表面(12)；

获取由所述金属表面(12)所发出的红外线辐射的至少一个图像。

2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，在扫描期间，所述金属表面(12)被由所述光学器件(18)所投射的所述激光束(26)加热。

3.根据权利要求1或者2所述方法，其特征在于，所述光学器件(18)包括光学元件，所述光学元件在所述第一波长和所述第二波长下具有相同的吸收和传输特性。

4.根据权利要求3所述方法，其包括用于处理所述光学元件中的至少一个光学元件的光学表面从而使所述光学元件在所述第一波长和所述第二波长下具有相同的吸收和传输特性的步骤。

5.根据权利要求1或2所述方法，其被提供用于检查在制造现场中的新零部件，启动所述第一激光源(14)并且将所述第一激光束传输至所述光学器件(18)的所述入口(22)。

6.根据权利要求1或2所述方法，其被提供用于检查已经在使用中的零部件，启动所述第二激光源(16)并且将所述第二激光束传输至所述光学器件(18)的所述入口(22)。

7.根据权利要求1或2所述方法，其特征在于，通过用于所述第一激光源和所述第二激光源的相同传感器(20)来获取红外线辐射的所述图像。

8.一种用于检查零部件的金属表面的装置，所述装置包括：

第一激光源(14)，其设置为生成具有介于1000nm与1100nm之间的第一波长和大于1W的功率的第一激光束；

第二激光源(16)，其设置为生成具有介于1500nm与1800nm之间的第二波长和大于1W的功率的第二激光束；

光学器件(18)，所述光学器件(18)包括用于激光束的入口(22)和设置为将所述激光束投射到所述金属表面上并且利用所述激光束扫描所述金属表面的装置；

传感器，其能够获取由所述金属表面所发出的红外线辐射的至少一个图像，

所述第一和第二激光束中的一个或者另一个适合用于传输至所述光学器件(18)的所述入口。

9.根据权利要求8所述装置，其特征在于，所述光学器件(18)包括光学元件，所述光学元件在所述第一波长和所述第二波长下具有相同的吸收和传输特性。

10.根据权利要求9所述装置，其特征在于，所述光学元件中的至少一个光学元件具有处理过的光学表面，从而使所述光学元件在所述第一波长和所述第二波长下具有相同的吸收和传输特性。