[发明专利]部分地基于组织定征的损伤预测

权利要求书

1.一种用于表征组织的系统，包括：

电子控制单元，其被配置为：

接收或确定电极和患者的组织之间的阻抗的测量；

接收或确定所述电极和所述组织之间的接触力的测量；

基于所述阻抗的测量和所述接触力的测量的比值来表征所述组织；以及

使得所述组织定征为以下中任一个：

(i)被呈现至用户；或

(ii)被应用以计算度量并使得所述度量被呈现至所述用户。

2.根据权利要求1所述的用于表征组织的系统，其中所述阻抗的测量和所述接触力的测量的比值包括分数，其中所述阻抗的测量是分子或分母中的一个，以及所述接触力的测量是分子或分母中的另一个。

3.根据权利要求1所述的用于表征组织的系统，其中所述阻抗的测量包括复阻抗，以及所述阻抗的测量和所述接触力的测量的比值包括分数，其中从至少所述复阻抗的电阻和电抗或所述复阻抗的幅度和相位角计算的度量是分子或分母中的一个，以及所述接触力的测量是分子或分母中的另一个。

4.根据权利要求1所述的用于表征组织的系统，其中所述电子控制单元被配置为通过将所述组织定征添加至所述组织的标测图或模型并使得所述标测图或模型被显示来使得所述组织定征被呈现至用户。

5.根据权利要求1所述的用于表征组织的系统，其中所述电子控制单元被配置为使得应用所述组织定征来计算所述度量，其中所述度量指示所述组织中的损伤尺寸。

6.根据权利要求5所述的用于表征组织的系统，其中所述电子控制单元还被配置为：

接收或确定在所述电极和所述组织之间施加的能量的测量；以及

使得基于所述组织定征和所施加的能量的测量来计算所述度量。

7.根据权利要求1所述的用于表征组织的系统，还包括：

信号发生器，其被配置为与所述电极电气耦合并将信号输出至所述电极以用于评估所述电极和所述组织之间的阻抗，其中所述阻抗是复阻抗；以及

光信号源，其被配置为与力传感器可操作地耦合以用于提供所述电极和所述组织之间的接触力的测量。

8.一种用于表征组织的方法，包括：

接收或确定电极和患者的组织之间的阻抗的测量；

接收或确定所述电极和所述组织之间的接触力的测量；

基于所述电极和所述组织之间的所述阻抗的测量与所述接触力的测量的比值来表征所述组织；以及

使得组织定征被呈现至用户，或应用所述组织定征来计算度量并使得所述度量被呈现至所述用户。

9.根据权利要求8所述的用于表征组织的方法，其中所述电极和所述组织之间的所述阻抗的测量与所述接触力的测量的比值包括分数，其中所述阻抗的测量的值是分子或分母中的一个，以及所述接触力的测量的值是分子或分母中的另一个。

10.根据权利要求8所述的用于表征组织的方法，其中所述阻抗的测量包括复阻抗，以及所述电极和所述组织之间的所述阻抗的测量与所述接触力的测量的比值包括分数，其中从至少所述复阻抗的电阻和电抗或所述复阻抗的幅度和相位角计算的度量是分子或分母中的一个，以及所述接触力的测量的值是分子和分母中的另一个。

11.根据权利要求8所述的用于表征组织的方法，还包括通过使得所述组织定征被显示来将所述组织定征被呈现至所述用户。

12.根据权利要求8所述的用于表征组织的方法，还包括通过将所述组织定征添加至所述组织的标测图或模型并使得所述组织的标测图或模型被显示来使得所述组织定征被呈现至所述用户。

13.根据权利要求8所述的用于表征组织的方法，还包括应用所述组织定征来计算所述度量，其中所述度量指示所述组织中的损伤尺寸。