[发明专利]用于评估滤波器本体的方法和系统以及用于制造空腔滤波器的方法

权利要求书

1.一种用于评估空腔滤波器(1)的下部滤波器部件(2)的方法，所述下部滤波器部件(2)包括底部板(4)，壁部分(6、7)和至少一个谐振元件(5)从所述底部板延伸，

其特征在于：

所述方法包括以下步骤：

-使用激光扫描组件(14)来扫描下部滤波器部件(2)，以便收集与所述下部滤波器部件(2)的形状和尺寸相关的数据，

-使得收集的数据与参考数据进行比较，以便确定下部滤波器部件(2)是否满足预定的质量要求。

2.根据权利要求1所述的方法，其中：使得收集的数据与参考数据进行比较的步骤包括识别在收集数据内的预定形状，并使得与和所述预定形状相关联的尺寸相关的收集数据与相应的参考数据进行比较。

3.根据权利要求2所述的方法，其中：如果与和所述预定形状相关联的尺寸相关的收集数据与相应参考数据偏差不超过预定阈值量，则认为满足预定的质量要求。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其中：所述预定形状选择为使得与所述至少一个谐振元件(5)的外部尺寸相关的收集数据与相应的参考数据进行比较。

5.根据权利要求2-4中任意一项所述的方法，其中：下部滤波器部件(2)包括至少两个谐振元件(5)，所述预定形状选择为使得与影响谐振元件(5)之间的耦合的拓扑特征的尺寸相关的收集数据与相应的参考数据进行比较。

6.根据前述任意一项权利要求所述的方法，其中：扫描下部滤波器部件(2)的步骤使用蓝色激光来执行。

7.根据前述任意一项权利要求所述的方法，其中：激光扫描组件(14)包括至少两个激光源。

8.根据前述任意一项权利要求所述的方法，其中：使用激光扫描组件(14)来扫描下部滤波器部件(2)的步骤包括使得下部滤波器部件(2)和激光扫描组件(14)中的一个相对于所述下部滤波器部件(2)和激光扫描组件(14)中的另一个沿三个方向运动。

9.一种用于制造空腔滤波器(1)的方法，包括以下步骤：

-提供滤波器本体坯料；

-处理滤波器本体坯料，以便获得具有底部板(4)的滤波器本体(3)，壁部分(6、7)和至少一个谐振元件(5)从所述底部板延伸；

-提供上部滤波器部件(8)以及内部滤波器部件和外部滤波器部件；

-通过将内部滤波器部件(12)和上部滤波器部件(8)安装至滤波器本体(3)上以及然后安装外部滤波器部件(10)，从而装配空腔滤波器(1)，

其特征在于：

所述方法还包括以下步骤：

-在装配空腔滤波器(1)之前，使用激光扫描组件(14)来扫描滤波器本体(3)，以便收集与滤波器本体(3)的形状和尺寸相关的数据；

-使得收集的数据与参考数据进行比较，以便确定滤波器本体(3)是否满足预定的质量要求；

其中，如果滤波器本体(3)满足预定的质量要求，才执行装配空腔滤波器(1)的步骤。

10.根据权利要求9所述的方法，其中：如果不满足质量要求，则继续处理滤波器本体(3)，并随后重复扫描滤波器本体(3)和使得收集的数据与参考数据比较的步骤。

11.根据权利要求9或10所述的方法，其中：提供滤波器本体坯料的步骤通过模制滤波器本体坯料来执行。

12.根据权利要求9-11中任意一项所述的方法，其中：处理滤波器本体坯料的步骤包括机械加工滤波器本体坯料以及为所述滤波器本体坯料提供传导性涂层。