[发明专利]识别材料的方法

权利要求书

1.一种通过发光对材料进行分选和/或再循环和/或进行质量检验和/或组成检验的方法，其中将至少一种发光物质掺入到材料中和/或施用到材料上，并且在通过辐射激发后分析物质的发光性能；

其中在激发期间或一个或多个时间间隔之后，确定一个或多个发射波长的强度，并且可由相同发射波长或不同发射波长的发射强度形成强度比。

2.根据权利要求1所述的方法，其中发光性能为随时间的光发射性能。

3.根据权利要求2所述的方法，其中对光发射进行时间解析。

4.根据权利要求2所述的方法，其中确定一个或多个发射波长的衰变常数。

5.根据权利要求2所述的方法，其中确定随时间的完整发射光谱的强度分布。

6.根据权利要求2所述的方法，其中在预定的时间段内对光发射进行积分。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述发光性能为光谱发射性能。

8.根据权利要求7所述的方法，其中光谱解析所述发射性能。

9.根据权利要求8所述的方法，其中确定特定的发射波长的存在和/或不存在。

10.根据权利要求8所述的方法，其中确定特定发射波长的绝对强度。

11.根据权利要求8所述的方法，其中确定特定发射波长和/或波长范围之间的强度比。

12.根据权利要求8所述的方法，其中确定发射光谱。

13.根据权利要求7所述的方法，其中光谱积分所述发射性能。

14.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，通过时间和/或光谱和/或辐射强度来调制发光的激发。

15.根据权利要求14所述的方法，其中，在单个激发的持续时间和/或在多脉冲激发的情况下脉冲的持续时间和/或脉冲之间的间隔间距的持续时间上通过时间和/或通过脉冲数调制激发。

16.根据权利要求14所述的方法，其中，在激发波长最大值的位置和/或激发波长的宽度和/或激发波长的数量上对激发进行光谱调制。

17.根据权利要求14所述的方法，其中通过辐射源的功率和/或通过使用滤光器来调制辐射强度。

18.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中将所测量的发光性能与激发特性相关联并且归属于材料。

19.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中将所测量的发光性能与激发特性相关联，以形成数学评估标准。

20.根据权利要求19所述的方法，其中将建立的数学评估标准与存储在数据库中的数学评估标准进行比较。

21.根据前述权利要求中任一项所述的方法用于材料的分选和/或再循环和/或进行质量检验和/或组成检验的用途。

22.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中确定发光特性的步骤在UV和/或VIS和/或IR中进行。

23.一种通过发光对材料进行分选和/或再循环和/或进行质量检验和/或组成检验的方法，其中将至少一种发光物质掺入材料中和/或施用到材料上，并且利用辐射在激发之后分析物质的发光性能；其中所述发光性能为随时间的光发射性能；并且其中确定一个或多个发射波长的衰变常数。