[发明专利]用于光学检测至少一个对象的检测器

权利要求书

1.一种用于光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)，所述检测器(110)包括：

-至少一个照射源(118)，其适于发射至少一个第一光束(120)和至少一个第二光束(122)，其中所述第一光束(120)具有第一张开角并且所述第二光束(122)具有第二张开角，其中所述第一张开角与所述第二张开角不同；

-至少一个纵向光学传感器(114)，其中所述纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(136)，其中所述纵向光学传感器(114)被设计为以取决于由光束对所述传感器区域(136)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定相同的所述照射的总功率，所述纵向传感器信号取决于所述传感器区域(136)中所述光束的束横截面；以及

-至少一个评估装置(164)，其中所述评估装置(164)适于将所述纵向光学传感器(114)的所述纵向传感器信号区分为取决于由所述第一光束(120)对所述传感器区域(136)的所述照射的第一纵向传感器信号和取决于由所述第二光束(122)对所述传感器区域(136)的所述照射的第二纵向传感器信号，其中所述评估装置(164)被设计为通过评估所述第一纵向传感器信号和所述第二纵向传感器信号生成关于所述对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。

2.根据前一权利要求所述的检测器(110)，其中所述照射源(118)被设计为调节所述第一光束(120)的所述第一张开角和所述第二光束(122)的所述第二张开角。

3.根据前述两项权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中所述照射源(118)包括至少两个光源(124，126)。

4.根据前述两项权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中所述照射源(118)包括至少一个投影表面(142)，其中所述投影表面(142)适于投射和/或反射由所述光源(124，126)发射的光并适配所述第一光束(120)的所述第一张开角和所述第二光束(122)的所述第二张开角。

5.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中所述照射源(118)包括至少一个孔元件(128)。

6.根据前一权利要求所述的检测器(110)，其中所述孔元件(128)是可变发光孔。

7.根据前述两项权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中所述照射源(118)包括至少两个孔元件(130，132)，其中所述孔元件具有不同的孔开口尺寸。

8.根据前一权利要求所述的检测器(110)，其中所述第一光束(120)和所述第二光束(122)同时或顺序地发射。

9.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中所述评估装置(164)被设计为通过频率、调制或相移中的一种或多种来区分所述第一纵向传感器信号和所述第二纵向传感器信号。

10.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中所述评估装置(164)被设计为通过考虑所述第一纵向传感器信号和所述第二纵向传感器信号来解决模糊性。

11.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中所述第一光束(120)具有第一波长，并且所述第二光束(122)具有与所述第一波长不同的第二波长。

12.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中所述检测器(110)另外具有用于调制所述照射的至少一个调制装置(182)。

13.根据前述权利要求中任一项所述的检测器(110)，其中所述第一光束(120)和所述第二光束(122)是调制光束。