[发明专利]具有改善的热性能的磁共振成像

权利要求书

1.一种磁共振（MR）成像装置，包括：

MR成像设备（10），其包括磁体（12）和多个发热部件；

冷却系统（30），其被连接以使用冷水冷却所述MR成像设备的所述多个发热部件；

一个或多个传感器，每个传感器被配置为测量所述MR成像设备的所述多个发热部件的热参数或所述冷却系统的热参数；以及

MR控制器（40），其包括电子处理器，所述电子处理器被编程为控制所述MR成像设备执行MR成像检查程序（42），并且响应于所测量的热参数中的一个或多个指示所述冷却系统具有不足的冷却容量来调整所述MR成像检查程序的执行，其中，所述冷却系统包括：

冷却剂回路（32），其被配置为使用在所述冷却剂回路中流动的冷却剂来冷却所述MR成像设备（10）的所述多个发热部件中的至少一个；

热交换器（34），其与所述冷却剂回路连接，以将热量从所述冷却剂传递到所述冷水；并且

其中，所述冷却剂回路包括混合阀（36），所述混合阀（36）将来自所述热交换器的冷却剂与来自所述冷却剂回路的返回管线的冷却剂混合，以在设定点温度处输出混合后的冷却剂；并且

其中，所述一个或多个传感器包括输出所述冷却剂回路的所述混合阀的阀设置作为热参数的阀传感器。

2.根据权利要求1所述的MR成像装置，其中：

所述MR成像设备（10）的所述多个发热部件包括低温压缩机（18），其被连接以将所述磁体（12）维持在超导状态中；并且

所述MR控制器（40）被编程为响应于由所述一个或多个传感器测量的热参数指示所述冷却系统具有不足的冷却容量而通过在所述MR成像检查程序（42）的所述执行期间关闭所述低温压缩机来调整所述MR成像检查程序的所述执行。

3.根据权利要求1-2中的任一项所述的MR成像装置，其中，所述MR控制器（40）被编程为响应于由所述一个或多个传感器测量的热参数指示所述冷却系统具有不足的冷却容量而通过在所述MR成像检查程序（42）的MR扫描的执行期间或者所述MR成像检查程序的连续MR扫描的执行之间插入暂停来调整所述MR成像检查程序的所述执行。

4.根据权利要求1或2所述的MR成像装置，其中，所述MR控制器（40）被编程为使用热模型（80）来确定所述冷却系统是否具有不足的冷却容量，所述热模型（80）包括：

梯度链热输出部件（84），其基于所述MR成像检查程序（42）的磁场梯度线圈驱动电流和所述磁场梯度线圈驱动电流的主频率来计算磁场梯度放大器（20）和磁场梯度线圈（22）的热输出；以及

射频（RF）放大器热输出部件（86），其基于在所述MR成像检查程序（42）期间由RF放大器（24）递送的平均RF功率和峰值RF功率来计算所述RF放大器的热输出。

5.根据权利要求1或2所述的MR成像装置，其中，所述MR控制器（40）被编程为响应于由所述一个或多个传感器测量的热参数指示所述冷却系统具有不足的冷却容量而通过调整所述MR成像检查程序（42）的MR扫描的MR扫描参数来调整所述MR成像检查程序的所述执行。

6.根据权利要求1或2所述的MR成像装置，其中，所述MR控制器（40）被编程为响应于由所述一个或多个传感器测量的热参数指示所述冷却系统具有不足的冷却容量而通过以下操作中的一个或两者来调整所述MR成像检查程序（42）的所述执行：（i）跳过所述MR成像检查程序的MR扫描的执行或（ii）重新排序所述MR成像检查程序的MR扫描。

7.根据权利要求1或2所述的MR成像装置，其中，所述MR成像设备的所述多个发热部件包括磁场梯度放大器（20）、磁场梯度线圈（22）和射频（RF）放大器中的一个或多个，并且所述一个或多个传感器包括测量所述多个发热部件的温度的温度传感器或测量流入所述多个发热部件的冷却剂入口管线和流出所述多个发热部件的冷却剂返回管线中的一个或两者的温度的温度传感器。