[发明专利]用于无接触式确定温度的方法以及红外测量系统有效
| 申请号： | 201780041068.6 | 申请日： | 2017-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN109313080B | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | M.弗兰克;V.森茨;M.巴德贾;A.伦贝格;M.克吕格;H.迪特默 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/02 | 分类号： | G01J5/02;G01J5/06;G01J5/10 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 臧永杰;刘春元 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 接触 确定 温度 方法 以及 红外 测量 系统 | ||
1.一种用于借助红外测量系统（10）无接触式确定表面（22）的温度的方法，其中，所述红外测量系统（10）至少具有：
红外探测器阵列（36），所述红外探测器阵列具有探测器阵列衬底（72），并且
﹒具有多个测量像元（62），所述多个测量像元分别以第一热学导热能力λMP（120）连接到所述探测器阵列衬底（72）上，其中，所述测量像元（62）对于红外辐射是灵敏的并且分别提供测量信号，用于确定与入射的红外辐射的强度相关的温度测量值TMP（66），并且
﹒具有多个参考像元（64），所述多个参考像元分别以第二热学导热能力λBP（122）连接到所述探测器阵列衬底（72）上，并且，所述多个参考像元分别提供测量信号，用于确定温度测量值TBP（68），
其中所述方法至少包括以下步骤：
﹒确定多个参考像元（64）的温度测量值TBP（68）；
﹒确定多个测量像元（62）的温度测量值ΤΜΡ（66）；
﹒分别以像元所属的温度漂移分量Tdrift（46）来校正温度测量值ΤΜΡ（66），
其特征在于，
﹒所述参考像元（64）作为对于红外辐射不灵敏的盲像元来实现，其中，所述第二热学导热能力λBP（122）比所述第一热学导热能力λMP（120）更大，并且在使用温度测量值TBP（68）的情况下确定所述温度漂移分量Tdrift（46），其中，为了确定所述温度漂移分量Tdrift（46），由所述参考像元（64）的温度测量值TBP（68）确定所述参考像元（64）的温度漂移行为mBP（102），其中所述参考像元的所述温度漂移行为mBP是用于参考像元的温度漂移的合适的度量，其中为了确定所述温度漂移分量Tdrift（46），使测量像元（62）的温度漂移行为mMP（100）与所述参考像元（64）的温度漂移行为mBP（102）处于数学关联性中，并且由所述数学关联性确定测量像元（62）的所述温度漂移行为mMP（100），其中所述测量像元的所述温度漂移行为mMP是用于测量像元的温度漂移的合适的度量。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，以时间间隔重复地确定所述温度漂移分量Tdrift（46）。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，为了确定所述温度漂移分量Tdrift（46），将所述参考像元（64）的所述温度漂移行为mBP（102）作为所述参考像元（64）的初始的测量偏差TBP,offset（98）和所述参考像元（64）的温度测量值TBP（68）之间的比例常数来确定。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，为了确定所述温度漂移分量Tdrift（46），将所述参考像元（64）的所述温度漂移行为mBP（102）作为所述参考像元（64）的初始的测量偏差相对于所述参考像元（64）的老化影响的灵敏性（112）和所述参考像元（64）的温度测量值TBP（68）之间的比例常数来确定。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，使所述测量像元（62）的所述温度漂移行为mMP（100）同等于所述参考像元（64）的所述温度漂移行为mBP（102）。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，由测量像元（62）的所述温度漂移行为mMP（100）来确定所述温度漂移分量Tdrift（46）。
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