[发明专利]在选择角度地照明时的伪迹减少有效

专利信息
申请号: 201780041423.X 申请日: 2017-04-26
公开(公告)号: CN109416464B 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 拉尔斯·施托佩;莫里茨·斯密德林;格哈德·克拉姆佩尔特;卡伊·威克尔 申请(专利权)人: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
主分类号: G02B21/14 分类号: G02B21/14;G02B21/36;G06T5/00;G02B21/06;G06T5/50
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 王瑞朋;胡彬
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 选择 角度 照明 减少
【权利要求书】:

1.一种用于获得结果图像的方法,该方法包括:

对光学设备(100)的照明模块(180)进行操控,并且所述照明模块具有用于由多个测量照明方向(111-114)照明物体(125)的多个光源(182),

对所述光学设备(100)的检测器(101)进行操控,所述检测器用于检测所述物体(125)的测量图像(501,502),其中,将所述测量图像(501,502)对应于所述测量照明方向(111-114),

对于每个测量图像(501,502):实施伪迹减少,其减少了相应的测量图像(501,502)中的基于不对焦设置的杂质(120)的伪迹(121-123),

在实施伪迹减少之后对于所有的测量图像(501,502):将这些测量图像(501,502)组合以获得结果图像(601)其中,所述方法此外还包括:

对于每个测量图像(501,502):对照明模块(180)进行操控,以由至少一个对应的参考照明方向(411-413,421-423,431-433)照明物体(125),

对于每个参考照明方向(411-413,421-423,431-433):对检测器(101)进行操控,以检测所述物体(125)的参考图像(551-558),

在实施伪迹减少时,对于每个测量图像(501,502):将相应的测量图像(501,502)与至少一个对应的参考图像(551-558)组合,以获得至少一个修正图像(563,563-1,563-2,564,564-1,564-2,565-1,565-2,566,567),所述修正图像表明伪迹(121-123),

其特征在于:所述杂质(120)包括漫射材料和吸光材料,

其中,为每个测量图像(501,502)对所述照明模块(180)进行操控,以由至少两个对应的参考照明方向(411-413,421-423,431-433)照明所述物体(125),

其中,所述方法此外还包括:

在实施伪迹减少时,对于每个修正图像(563,563-1,563-2,564,564-1,564-2,565-1,565-2,566,567):基于另外的修正图像(563,563-1,563-2,564,564-1,564-2,565-1,565-2,566,567)的伪迹区域对相应的伪迹区域进行修正。

2.根据权利要求1所述的用于获得结果图像的方法,所述方法此外还包括:

在实施伪迹减少时,对于每个修正图像(563,563-1,563-2,564,564-1,564-2,565-1,565-2,566,567):使用基于强度阈值的图像分割以在所述修正图像(563,563-1,563-2,564,564-1,564-2,565-1,565-2,566,567)中获得隔离的伪迹区域,该伪迹区域包含伪迹(121-123),

在实施伪迹减少时,对于每个测量图像(501,502):基于伪迹区域去除伪迹。

3.根据权利要求1所述的用于获得结果图像的方法,所述方法此外还包括:

对于每个测量图像(501,502):对所述照明模块(180)进行操控,以由对应次序(499)的参考照明方向(411-413,421-423,431-433)照明所述物体(125),

对于每个参考照明方向(411-413,421-423,431-433):对所述检测器(101)进行操控,以检测所述物体(125)的一个参考图像(551-558),

在实施伪迹减少时,对于每个测量图像(501,502):识别伪迹运动,其作为对应的参考图像(551-558)中的相应次序(499)的参考照明方向(411-413,421-423,431-433)的函数,并且其中相应的伪迹减少基于伪迹的相应识别的运动。

4.根据权利要求3所述的用于获得结果图像的方法,所述方法此外还包括:

在实施伪迹减少时,对于每个测量图像(501,502):基于所识别的伪迹运动将相应的测量图像(501,502)与对应的参考图像(551-558)中的至少一个组合。

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