[发明专利]过套管电阻率仪器的系统和方法

权利要求书

1.一种用于测量套管外地层电阻率的装置，包括至少一个发射交流电的信号源，和至少一个测量所述交流电的测量电极，其中测量的交流电信号用于计算电流在套管上传播的参数，其中参数包括电流从信号源到测量电极流动的时间差、流动的速度、流动的相位偏移和流动的幅度衰减，其中这些参数被用于计算套管外地层的电阻率。

2.根据权利要求1所述的装置，信号源包括电偶极子。

3.根据权利要求1所述的装置，测量的交流电信号包括电流或电压。

4.如权利要求1所述的装置，测量的交流电信号包括时域信号或频域信号。

5.根据权利要求1所述的装置，电流传播参数包括一个或多个电流流动速度，电流流过测量点之间的时间差，测量点之间电流流动的相位偏移及测量点之间的电流衰减。

6.根据权利要求1所述的装置，电流流动的速度、电流流动的时间、电流的相位偏移和电流幅度衰减被用于计算套管外的地层电阻率。

7.根据权利要求1所述的装置，装置包括一个信号源和一个测量电极。

8.如权利要求7所述的装置，其中所述测量电极测量时域信号，该时域信号用于计算电流从信号源流到测量电极流动的时间差和流速，这些时间差和电流流速被用于计算套管外地层电阻率。

9.根据权利要求7所述的装置，其中所述测量电极测量频域信号，该频域信号用于计算电流从信号源流到测量电极的相位差和电流衰减，这些相位差和电流衰减被用于计算套管外地层电阻率。

10.根据权利要求1所述的装置，其中所述装置包括两个测量电极。

11.如权利要求10所述的装置，其中所述测量电极测量时域信号，该时域信号用于计算电流流过两个测量电极的时间差和电流流速，该时间差和电流流速用于计算套管外的地层电阻率。

12.如权利要求10所述的装置，其中所述测量电极测量频域信号，该频域信号用于计算电流流过两个测量电极的相位差和电流衰减，该相位差和电流衰减用于计算套管外的地层电阻率。

13.根据权利要求1所述的装置，其中所述信号源包括安装在铁氧体环上的螺旋线圈。

14.根据权利要求5所述的装置，其中所述电流流动速度与套管外的地层电阻率有关。

15.如权利要求5所述的装置，其中所述电流流过测量点的时间差与套管外的地层电阻率有关。

16.根据权利要求5所述的装置，其中所述测量点之间电流流动的相位偏移与套管外的地层电阻率有关。

17.根据权利要求5所述的装置，其中所述测量点之间的电流衰减与套管外的地层电阻率有关。