[发明专利]高温等离子体中的低磁场和零点磁场的非微扰测量

权利要求书

1.一种测量高温等离子体中的磁场的非微扰方法，其包括：

将第一多个激光束径向注入到FRC等离子体中，其中每个激光束具有不同的偏振，

在两个位置处与所述FRC等离子体的FRC磁场中的零点位置相交；

在CCD的垂直方向上对所述第一多个激光束的路径成像；

使用双折射晶体将所述垂直方向上的光进一步拆分成正交偏振；并且

测量所述FRC磁场的零点位置。

2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

将激光束轴向注入到所述FRC磁场中；

照射所述FRC磁场的两个X点中的每一个；并且

测量所述两个X点之间的距离，以产生所述FRC磁场的长度。

3.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

将第二多个激光束径向注入到所述FRC磁场中；

照射所述FRC磁场的两个X点中的每一个；并且

测量所述两个X点之间的距离，以产生所述FRC磁场的长度。

4.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

提供所述FRC磁场在沿着所述FRC等离子体的直径的两个点处的零点位置的位置；

使用所述零点位置的位置来计算所述FRC等离子体的半径和中心；并且

将所述半径和中心提供给反馈控制系统。

5.根据权利要求4所述的方法，其中所述反馈控制系统通过控制外部施加的磁场来控制所述FRC等离子体的径向位置和大小。

6.一种测量高温等离子体中的磁场的非微扰方法，其包括：

沿着CCD的水平轴线方向对FRC等离子体的波长成像；

沿着所述CCD的垂直轴线方向对所述FRC等离子体的径向范围成像；

使用双折射晶体将所述垂直方向上的光拆分成正交偏振；并且

测量所述FRC等离子体的FRC磁场的零点位置。

7.根据权利要求6所述的方法，进一步包括：

使第一分光偏振计的狭缝朝向所述FRC等离子体的轴向方向对准；并且

测量所述FRC磁场的第一X点的位置。

8.根据权利要求6所述的方法，进一步包括：

使第二分光偏振计的狭缝朝向所述FRC等离子体的轴向方向同时对准；

测量所述FRC磁场的第二X点的位置；并且

测量所述第一X点与所述第二X点之间的距离，以产生所述FRC磁场的长度。

9.根据权利要求6所述的方法，进一步包括：

提供所述FRC磁场在沿着所述FRC等离子体的直径的两个点处的零点位置的位置；

使用所述零点位置的位置来计算所述FRC等离子体的半径和中心；并且

将所述半径和中心提供给反馈控制系统。

10.根据权利要求9所述的方法，其中所述反馈控制系统通过控制外部施加的磁场来控制所述FRC等离子体的径向位置和大小。

11.一种用于非微扰测量高温等离子体中的磁场的分光偏振计，其包括：

分光仪；

快速成像CCD相机；

三个激光束；以及

双折射晶体。

12.根据权利要求11所述的分光偏振计，

其中所述三个激光束具有不同的偏振、类似的波长，并且彼此隔开小距离。

13.根据权利要求11所述的分光偏振计，进一步包括：

用以对所述三个激光束成像的三个狭缝。