[发明专利]薄层色谱板和使用其的试样分析方法在审

专利信息
申请号: 201780049278.X 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN109564203A 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 坂本俊裕;松野年伸 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: G01N30/92 分类号: G01N30/92;G01N30/26;G01N30/88;G01N30/90;G01N30/91;G01N30/94
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 葛凡
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 第一层 分离层 薄层色谱板 多孔结构 基板 彼此分离 方向正交 试样分析 延伸 配置
【权利要求书】:

1.一种薄层色谱板,其具备:

基板、以及

配置在所述基板上且用于使试样所含的多种成分彼此分离的分离层,

所述分离层包含:具有多孔结构且在第一方向上延伸的第一层、以及具有多孔结构且在所述第一方向上延伸的第二层,

所述第一层和所述第二层在与所述第一方向正交的第二方向上进行排列,

所述第一层的Zeta电位与所述第二层的Zeta电位不同。

2.根据权利要求1所述的薄层色谱板,其中,所述第一层包含第一金属氧化物,

所述第二层包含第二金属氧化物,

所述第一金属氧化物的等电点与所述第二金属氧化物的等电点不同。

3.根据权利要求1所述的薄层色谱板,其中,所述第一层和所述第二层之中,仅所述第二层的所述多孔结构被金属氧化物修饰。

4.根据权利要求2所述的薄层色谱板,其中,所述第一金属氧化物配置在所述第一层的所述多孔结构上。

5.根据权利要求2所述的薄层色谱板,其中,所述第一层包含配置在所述第一层的所述多孔结构上的第一金属氧化膜,

所述第一金属氧化膜由所述第一金属氧化物形成。

6.根据权利要求2或4所述的薄层色谱板,其中,所述第一层的所述多孔结构包含被第一金属氧化膜覆盖的粒子的聚集体,

所述第一金属氧化膜由所述第一金属氧化物形成。

7.根据权利要求2~6中任一项所述的薄层色谱板,其中,所述第二金属氧化物配置在所述第二层的所述多孔结构上。

8.根据权利要求2~6中任一项所述的薄层色谱板,其中,所述第二层包含配置在所述第二层的所述多孔结构上的第二金属氧化膜,

所述第二金属氧化膜由所述第二金属氧化物形成。

9.根据权利要求2~7中任一项所述的薄层色谱板,其中,所述第二层的所述多孔结构包含被第二金属氧化膜覆盖的粒子的聚集体,

所述第二金属氧化膜由所述第二金属氧化物形成。

10.根据权利要求3、7和9中任一项所述的薄层色谱板,其中,所述第一层的所述多孔结构包含各自具有单一组成的相的粒子的聚集体。

11.根据权利要求2和4~10中任一项所述的薄层色谱板,其中,所述第一金属氧化物包含选自氧化钛、氧化铝、氧化锡、氧化锌、氧化钨、氧化锰、氧化镍、氧化铜和氧化镁中的至少一种。

12.根据权利要求2~11中任一项所述的薄层色谱板,其中,所述第二金属氧化物包含选自氧化钛、氧化铝、氧化锡、氧化锌、氧化钨、氧化锰、氧化镍、氧化铜和氧化镁中的至少一种。

13.根据权利要求2~12中任一项所述的薄层色谱板,其中,所述第一层与所述第二层相接。

14.根据权利要求2~13中任一项所述的薄层色谱板,其还具备带状功能层,所述带状功能层配置在所述分离层上且用于将试样置于所述分离层,

所述功能层在所述第二方向上延伸。

15.一种试样分析方法,其包括:

将试样分别置于权利要求1~14中任一项所述的薄层色谱板的所述第一层和所述第二层;以及

使所述第一方向上的所述第一层和所述第二层各自的端部接触展开溶剂。

16.根据权利要求15所述的试样分析方法,其中,所述展开溶剂包含水。

17.根据权利要求15或16所述的试样分析方法,其中,所述试样包含蛋白质。

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