[发明专利]用于使用参考信号内插的窄带测距系统的方法和装置

权利要求书

1.一种用于测距的方法，所述方法包括：

接收具有频率的参考信号的第一采样和第二采样，所述参考信号表示第一信号；

在不同相位偏移生成具有所述频率的重构的参考信号，包括通过在所述第一采样和所述第二采样之间进行内插；

接收从物体反射的第二信号，其中从所述物体反射的所述第二信号包括从所述物体反射的所述第一信号的反射，并且所述第一采样和所述第二采样表示没有所述物体的反射的所述参考信号；

通过将所述重构的参考信号与所述从所述物体反射的所述第二信号相关生成相关；

基于所述相关的最高峰值或所述相关的最高的峰值与旁瓣比率中的至少一个来选择相位；以及

基于所选择的相位确定所述物体的距离。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，从换能器发射所述第一信号。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述相关包括各自的峰值和各自的旁瓣值。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述相关对应于所述不同相位偏移。

5.根据权利要求1所述的方法，还包括基于所述选择的相位确定延迟，所述延迟对应于所述距离。

6.根据权利要求5所述的方法，还包括在所述最高峰值周围执行曲线拟合操作以确定所述最高峰值的精细估计，所述最高峰值对应于所述延迟。

7.一种用于测距的装置，所述装置包括：

内插器，其具有输出，所述内插器被构造为：接收具有频率的参考信号的第一采样和第二采样，所述参考信号表示第一信号；在不同相位偏移生成具有所述频率的重构的参考信号，包括通过在所述第一采样和所述第二采样之间进行内插；并且在所述内插器的输出处提供所述重构的参考信号；

相关器，其具有耦合到所述内插器的输出的输入，所述相关器具有输出并且所述相关器被构造为：接收从物体反射的第二信号，其中从所述物体反射的所述第二信号包括从所述物体反射的所述第一信号的反射，并且所述第一采样和所述第二采样表示没有所述物体的反射的所述参考信号；通过将所述重构的参考信号与从所述物体反射的所述第二信号相关来生成相关；并且在所述相关器的输出处提供所述相关；以及

相位选择器，其具有耦合到所述相关器的输出的输入，所述相位选择器具有输出并且所述相位选择器被构造为：基于所述相关的最高峰值或所述相关的最高的峰值与旁瓣比率中的至少一个来选择相位，基于所选择的相位确定所述物体的距离；并且在所述相位选择器的输出处提供所述距离。

8.根据权利要求7所述的装置，还包括换能器，其用于发射所述第一信号。

9.根据权利要求7所述的装置，其中，所述相关包括各自的峰值和各自的旁瓣值。

10.根据权利要求9所述的装置，其中，所述相关对应于所述不同相位偏移。

11.根据权利要求7所述的装置，其中，所述相位选择器被构造成基于所述选择的相位确定延迟，所述延迟对应于所述距离。

12.根据权利要求11所述的装置，其中，所述相位选择器被构造成在所述最高峰值周围执行曲线拟合操作，以确定所述最高峰值的精细估计，所述最高峰值对应于所述延迟。