[发明专利]用于对设备的管道系统中的沉积物进行识别的方法和装置

权利要求书

1.一种用于对设备的管道系统(10)中的沉积物进行识别的方法，所述设备由流体流过，

其特征在于，以这样的方式将至少一个微波探针(100)引入所述管道系统(10)中，即，使流体对着所述微波探针(100)的对微波辐射透明的窗口(102)流动，其中微波借助所述至少一个微波探针(100)经由对微波辐射透明的所述窗口(102)耦合到所述管道系统(10)中，其中耦合到所述管道系统(10)中的微波以与在中空导体中相同的方式在所述管道系统(10)中传播，

其中

a.)进行反射测量，在该反射测量中，由所述至少一个微波探针(100)辐射的微波的反射被相应的微波探针(100)再次接收，截止频率被确定，其中为了确定截止频率，耦合到所述管道系统(10)中的微波的频率在预设区域内变化，并且针对每个频率确定反射的微波辐射的强度，并且由与基准或在先测量结果的比较来推断所述微波探针(100)的周围区域中的收缩部，其中对指示出收缩部的截止频率进行识别并从该指示出收缩部的截止频率确定收缩部处的自由横截面，和/或

b.)将至少两个微波探针(100)彼此相距一定距离地引入所述管道系统中并在两个微波探针(100)之间进行透射测量，这两个微波探针(100)的布置限定出一管道系统节段，确定该管道系统节段的截止频率，其中为了确定截止频率，在预设区域中改变耦合到所述管道系统(10)中的微波的频率并针对每个频率确定反射的微波辐射的强度，并且通过与基准或在先测量结果的比较来推断所述管道系统节段中的收缩部，其中识别指示出收缩部的截止频率并从该指示出收缩部的截止频率确定收缩部处的自由横截面，

其中，从收缩部的识别来推断沉积物的有无。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述管道系统(10)包括至少一个变截面区域、分支和/或弯曲部。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在根据变型b )的透射测量中，额外地对振幅进行测量，所述振幅的变化指示出狭窄部。

4.根据权利要求1或2所述的方法，所述测量在所述设备的运行期间连续进行，并且确定被测参数的时间上的变化，其特征在于，所述设备的运行条件是变化的，时间上的变化的加速意味着不利的运行条件，而时间上的变化的减慢意味着有利的运行条件。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在模型上确定所述设备的管道系统(10)的基准值，将所述基准值按比例缩放到所述设备的尺寸，当进行测量时，将测量结果与所述基准值进行比较，其中所述模型是计算机模型或管道系统(10)的缩小比例模型。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述管道系统(10)的连接部位处布置屏蔽部。

7.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述管道系统(10)具有至少一个弯曲区段，其中在所述弯曲区段处将所述至少一个微波探针(100)引入所述管道系统(10)中。