[发明专利]玻璃物品的制造方法及玻璃物品有效
申请号: | 201780052075.6 | 申请日: | 2017-08-02 |
公开(公告)号: | CN109641776B | 公开(公告)日: | 2022-04-29 |
发明(设计)人: | 伊藤淳;长泽郁夫 | 申请(专利权)人: | AGC株式会社 |
主分类号: | C03B33/09 | 分类号: | C03B33/09;B23K26/38;B23K26/55;C03C17/32;C03C21/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 穆德骏;安翔 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 玻璃 物品 制造 方法 | ||
1.一种制造方法,是具有有机膜的玻璃物品的制造方法,其中,
包括如下工序:
(1)在具有彼此相对的第一主表面及第二主表面的玻璃板中,通过从该玻璃板的所述第一主表面侧照射激光而在所述第一主表面上形成排列有多个孔隙的面内孔隙区域,并形成一个或两个以上的孔隙从所述面内孔隙区域朝向所述第二主表面排列而成的多个内部孔隙列;
(2)在所述玻璃板的所述第一主表面或第二主表面上成膜出有机膜;及
(3)在所述玻璃板的成膜出所述有机膜的主表面侧,沿着所述面内孔隙区域或其附近照射、扫描与所述激光不同的激光,沿着所述面内孔隙区域从所述玻璃板分离出一个或两个以上的玻璃物品,
在所述(3)的工序中,以满足以下的条件的方式照射所述不同的激光:
在所述分离后的玻璃物品的所述有机膜中,当将所述第一主表面侧的中央部设为MC、将俯视观察下的所述玻璃物品的端面的一个点设为MP时,
在所述MP处,将通过X射线光电子能谱分析法得到的氟的计数设为IMP(F)、硅的计数设为IMP(Si),将IMP(F)/IMP(Si)设为RMP,
并在点MC处,将通过所述X射线光电子能谱分析法得到的氟的计数设为IMC(F)、硅的计数设为IMC(Si),将IMC(F)/IMC(Si)设为RMC,此时,满足下式,
比RMP/RMC≥0.3,
其中,在所述玻璃物品为大致多边形的情况下,MP从除了两条边的交点部之外的点来选定。
2.根据权利要求1所述的制造方法,其中,
所述制造方法在所述(1)的工序之后且在所述(2)的工序之前,还包括(4)对所述玻璃板进行化学强化的工序。
3.一种制造方法,是具有有机膜的玻璃物品的制造方法,其中,
包括如下工序:
(1)在具有彼此相对的第一主表面及第二主表面的玻璃板中,在该玻璃板的所述第一主表面成膜出有机膜;
(2)通过从所述玻璃板的所述第一主表面侧照射激光而在所述第一主表面上形成排列有多个孔隙的面内孔隙区域,并形成一个或两个以上的孔隙从所述面内孔隙区域朝向所述第二主表面排列而成的多个内部孔隙列;及
(3)在所述玻璃板的所述第一主表面侧,沿着所述面内孔隙区域或其附近照射、扫描与所述激光不同的激光,沿着所述面内孔隙区域从所述玻璃板分离出一个或两个以上的玻璃物品,
在所述(3)的工序中,以满足以下的条件的方式照射所述不同的激光:
在所述分离后的玻璃物品的所述有机膜中,当将所述第一主表面侧的中央部设为MC,将俯视观察下的所述玻璃物品的端面的一个点设为MP时,
在所述MP处,将通过X射线光电子能谱分析法得到的氟的计数设为IMP(F)、硅的计数设为IMP(Si),将IMP(F)/IMP(Si)设为RMP,
并在点MC处,将通过所述X射线光电子能谱分析法得到的氟的计数设为IMC(F)、硅的计数设为IMC(Si),将IMC(F)/IMC(Si)设为RMC,此时,满足下式:
比RMP/RMC≥0.3,
其中,在所述玻璃物品为大致多边形的情况下,MP从除了两条边的交点部之外的点来选定。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的制造方法,其中,
在所述面内孔隙区域中,相邻的孔隙彼此的间隔处于3μm~10μm的范围。
5.根据权利要求1~3中任一项所述的制造方法,其中,
所述有机膜是具有硅氧烷键作为主骨架并含有氟的聚合物。
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