[发明专利]用于估计磁性物体的参考轴与磁轴之间的角度偏差的方法

权利要求书

1.一种用于估计磁性物体(2)的参考轴(A_ref)和与所述磁性物体(2)的磁矩(m)共线的磁轴之间的角度偏差以分选所述磁性物体的方法，包括以下步骤：

a)将所述磁性物体(2)定位(90)为面向至少一个磁力计(M_i)，所述至少一个磁力计能够测量存在磁性物体(2)时的磁场(B)；

b)使所述磁性物体(2)围绕所述参考轴(A_ref)旋转(110)；

c)在旋转期间，使用所述磁力计(M_i)来测量(110)在测量持续时间(T)的不同时刻(t_j)的磁场(B_i(t_j))；

d)根据磁场(B_i)的测量(B_i(t_j))来估计(130；230)角度偏差

e)将所述角度偏差与阈值进行比较；以及

f)基于所述角度偏差和所述阈值的比较结果对所述磁性物体进行分选，

其中，所述磁性物体(2)是具有对称轴的圆柱形磁体，所述参考轴(A_ref)是所述圆柱形磁体的对称轴。

2.如权利要求1所述的方法，其中，估计步骤(130)包括：

-根据磁场(B^d)的测量(B^d(t_j))识别称为最小磁场的磁场和称为最大磁场的磁场的子步骤；和

-根据识别的最小磁场和最大磁场以及表示磁力计(M)相对于磁性物体(2)的位置的几何参数(r，z；d)来计算角度偏差的子步骤，

其中，角度偏差根据以下等式来计算：

其中，d是磁力计和磁性物体之间的距离，z和r是磁力计分别沿与参考轴(A_ref)平行的轴(e_z)和与参考轴(A_ref)正交的轴(e_r)相对于磁性物体的坐标，并且其中，a是预定系数。

3.如权利要求2所述的方法，其中，在识别子步骤期间，最小磁场和最大磁场分别根据磁场(B^d)的测量(B^d(t_j))的范数(‖B^d(t_j)‖)的最小值和最大值来识别。

4.如权利要求2所述的方法，其中，所述几何参数(r，z；d)是在通过参考轴(A_ref)并且包含磁力计(M)的平面中磁力计(M)相对于磁性物体(2)的坐标(r，z)和距离(d)。

5.如权利要求2所述的方法，其中角度偏差根据系数(CV)和所述几何参数(r，z；d)来计算，该系数(CV)等于由最小磁场和最大磁场之差形成的矢量的范数与由最小磁场和最大磁场之和形成的矢量的范数的比率。

6.如权利要求1所述的方法，其中，在旋转步骤期间，磁性物体(2)围绕参考轴(A_ref)完成至少一次旋转。

7.如权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个磁力计(M)包括用于检测磁场的至少三个轴，所述检测轴彼此不平行。

8.如权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个磁力计(M)是单个三轴磁力计。

9.如权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个磁力计(M)位于参考轴(A_ref)的外侧或位于穿过磁性物体的、参考轴(A_ref)的垂直线的外侧。

10.如权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个磁力计(M)相对于所述磁性物体沿着与参考轴(A_ref)平行的轴(e_z)定位在坐标z处并且沿着与参考轴(A_ref)正交的轴(e_r)定位在坐标r处，使得坐标z大于或等于坐标r。