[发明专利]测试固定装置

权利要求书

1.测试固定装置，所述测试固定装置用于接合测试仪和待测单元(UUT)，所述测试固定装置包括：

第一电触点，所述第一电触点面向所述测试仪；

第二电触点，所述第二电触点面向所述UUT；

基板，所述基板由印刷的第一材料节段构成，所述第一材料是非导电的，所述基板在所述第一电触点和所述第二电触点之间；以及

结构，所述结构穿过所述基板，所述结构包括第二材料节段，所述第二材料是导电的，所述结构中的至少一个电连接第一电触点和第二电触点。

2.根据权利要求1所述的测试固定装置，其中在所述基板内的所述结构中的至少一个具有相对于所述基板的上表面和下表面非竖直且非水平的节段。

3.根据权利要求1所述的测试固定装置，其中所述第一材料围绕并且与所述第一电触点的至少一部分接触。

4.根据权利要求1所述的测试固定装置，还包括：

底板，所述底板保持所述第二电触点，所述印刷的第一材料节段在所述底板上，所述底板包括至少非导电的部分。

5.根据权利要求1所述的测试固定装置，其中所述第一电触点包括印刷的第三材料节段，所述第三材料是导电的并且包括贵金属。

6.根据权利要求5所述的测试固定装置，其中所述第一电触点包括用于保持引脚的引脚插孔，所述引脚与所述UUT的触点配合。

7.根据权利要求1所述的测试固定装置，其中所述第二材料包括银基材料。

8.根据权利要求1所述的测试固定装置，其中所述结构中的至少一个包括至少部分地被介电材料围绕的所述第二材料，所述介电材料至少部分地被导电材料围绕。

9.根据权利要求1所述的测试固定装置，还包括：

顶板，所述顶板保持所述第一电触点，所述顶板附接到所述基板。

10.根据权利要求1所述的测试固定装置，其中所述第一电触点包括引脚，并且所述第二电触点包括焊盘。

11.根据权利要求1所述的测试固定装置，其中所述第一电触点具有与所述UUT上的触点布局相对应的布局；并且

其中所述第二电触点具有与所述测试仪部件上的触点布局相对应的布局。

12.根据权利要求1所述的测试固定装置，其中所述第二材料包括印刷导体和非印刷材料的组合。

13.形成用于接合测试仪和待测单元(UUT)的测试固定装置的方法，所述方法包括：

至少部分地通过材料节段的聚积形成基板和所述基板中的结构，材料节段中的至少一些包括形成所述基板的非导电的材料和形成所述结构的导电的材料；

其中所述基板将在第一电触点和第二电触点之间，所述第一电触点面向所述测试仪，并且所述第二电触点面向所述UUT，所述结构中的至少一个被形成为电连接第一电触点和第二电触点。

14.根据权利要求13所述的方法，其中在所述基板内的所述结构中的至少一个被成形为具有相对于所述基板的上表面和下表面非竖直且非水平的节段。

15.根据权利要求13所述的方法，其中形成所述基板包括：

将所述材料节段聚积在底板上，所述底板保持所述第二电触点。

16.根据权利要求13所述的方法，其中形成所述基板包括：

使用设备将所述第二电触点保持在适当位置；

形成在所述第二电触点周围的所述节段中的至少一个的至少一部分；

等待直到所述节段中的至少一个的所述至少一部分退火；以及

移除所述设备。