[发明专利]具有选择性平面照明的光场显微镜在审
申请号: | 201780057049.2 | 申请日: | 2017-09-15 |
公开(公告)号: | CN109716199A | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
发明(设计)人: | 约瑟夫·阿茨勒;安德烈亚斯·肯达 | 申请(专利权)人: | 分子装置(奥地利)有限公司 |
主分类号: | G02B27/00 | 分类号: | G02B27/00;G02B21/00;G02B21/36 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾红霞;顾欣 |
地址: | 奥地利*** | 国省代码: | 奥地利;AT |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光片 光场显微镜 平面照明 微透镜阵列 辐照 光场数据 光检测器 聚焦装置 扫描样品 样品平面 照射光 光场 物镜 显微镜 平行 采集 输出 | ||
1.一种光场显微镜,包括:
光源,其构造为用于生成照射光;
聚光器透镜,其构造为用于接收来自所述光源的所述照射光,并将所述照射光输出为经聚光的照射光;
光片聚焦装置,其构造为用于接收来自所述聚光器的所述经聚光的照射光,并且将所述照射光输出为光片;
样品台,其构造为用于将样品支撑在样品平面中,并且用于接收沿着不与所述样品平面平行的照射方向的所述光片;
物镜,其构造为用于接收来自所述样品的检测光;
微透镜阵列,其构造为用于接收来自所述物镜的所述检测光;以及
光检测器,其构造为用于接收来自所述微透镜阵列的所述检测光,并且测量所述检测光的光场参数。
2.根据权利要求1所述的光场显微镜,其中,所述光源构造为用于生成具有下述波长的所述照射光:所述波长对于从所述样品诱发荧光检测光有效。
3.根据权利要求1所述的光场显微镜,其中,所述光源构造为用于生成多个照射光束,并且所述光场聚焦装置构造为用于将所述多个照射光束输出为多个光片。
4.根据权利要求1所述的光场显微镜,其中,所述光片聚焦装置选自由柱面透镜以及包括一个或多个狭缝的光圈组成的群组。
5.根据权利要求1所述的光场显微镜,包括光学器件,所述光学器件构造为用于限定从所述光源到所述样品的照射光路的至少一部分,并且用于限定从所述样品到所述光检测器的检测光路的至少一部分。
6.根据权利要求5所述的光场显微镜,其中,所述光学器件包括二向色镜,所述二向色镜构造为用于接收所述光片并将所述光片朝向所述样品反射,并且用于接收所述检测光并且朝向所述光检测器透射所述检测光。
7.根据权利要求5所述的光场显微镜,其中,所述物镜位于所述照射光路和所述检测光路两者中。
8.根据权利要求5所述的光场显微镜,其中,所述光学器件包括可移动反射镜,所述可移动反射镜构造为用于调整所述照射方向相对于所述样品平面的角度。
9.根据权利要求8所述的光场显微镜,其中,所述可移动反射镜位于所述物镜的光瞳处。
10.根据权利要求1所述的光场显微镜,其中,所述样品台构造为用于平移所述样品平面中的所述样品,或用于相对于所述光片旋转所述样品平面,或者用于前述两者。
11.根据权利要求1所述的光场显微镜,其中,所述样品台构造为用于支撑样品容器的阵列。
12.根据权利要求1所述的光场显微镜,其中,所述微透镜阵列位于像平面处。
13.根据权利要求1所述的光场显微镜,其中,所述光检测器位于距所述微透镜阵列的距离等于所述微透镜阵列的小透镜的一倍焦距的位置处。
14.根据权利要求1所述的光场显微镜,其中,所述光检测器位于与所述微透镜阵列相距一定距离处,使得所述光场显微镜具有伽利略构造。
15.根据权利要求1所述的光场显微镜,其中,所述光检测器位于与所述微透镜阵列相距一定距离处,使得所述光场显微镜具有开普勒构造。
16.根据权利要求1所述的光场显微镜,包括在所述物镜与所述微透镜阵列之间的镜筒透镜。
17.根据权利要求16所述的光场显微镜,其中所述微透镜阵列的f值与由所述镜筒透镜的光瞳直径和焦距限定的成像光学器件的f值匹配。
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