[发明专利]对质询生成唯一响应

权利要求书

1.一种用于对质询生成唯一响应的装置，所述装置包括：

多个结构，其中每个结构展现量子力学限制，并且每个结构被布置为在受到电测量的质询时提供唯一响应，所述唯一响应与所述结构的限定所述量子力学限制的原子组成相关联；

所述装置被布置为通过促进处于电组合形式的所述多个结构中的至少两个结构的输出的电测量来促进对处于所述电组合形式的所述多个结构中的所述至少两个结构的质询，以生成所述唯一响应；

所述唯一响应能够从所述电测量中导出。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述至少两个结构以组合形式受到质询时获得的所述唯一响应不同于相同的两个结构在每个结构孤立地受到质询的情况下获得的每个唯一响应的相加。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述唯一响应是不同的，以至于不可能通过知道所述两个结构中的每个结构在孤立形式下的每个唯一响应来确定处于组合形式的所述至少两个结构的所述唯一响应。

4.根据前述权利要求中的任意一项或多项所述的装置，其特征在于，促进电测量包括：当所述多个结构是以并联形式和/串联形式电连接或电可连接时，促进对所述多个结构中的至少两个结构的所述输出的电测量。

5.根据前述权利要求中的任意一项或多项所述的装置，其特征在于，所述多个结构被布置为使得在这种布置中结构数量的增加导致可能存在的质询/对质询的响应的数量的指数扩大。

6.根据前述权利要求中的任意一项或多项所述的装置，其特征在于，所述装置包括多个并联连接或并联可连接的结构，所述装置包括多个这种并联连接的结构，所述多个这种并联连接的结构串联或并联连接在一起。

7.根据权利要求1至4中任意一项或多项所述的装置，其特征在于，所述多个结构包括串联电连接或串联电可连接在一起的N个结构，并且所述装置被布置为促进所述N个结构中的2个至N个结构的不同串联组合的输出的选择性测量。

8.根据权利要求1至5中任意一项或多项所述的装置，其特征在于，所述多个结构包括连接或可连接到N个开关的N个结构，所述N个结构电连接或电可连接到K个结构，所述K个结构连接或可连接到K个开关，使得通过所述开关的选择性操作得到的可能测量的数量等于2^N+K。

9.根据权利要求1至5中任意一项或多项所述的装置，其特征在于，所述多个结构包括连接或可连接到N个开关的N个并联布置的结构，使得通过所述开关的选择性操作得到的可能测量的数量等于2^N。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述多个结构包括连接或可连接到N个开关的并联布置的N个结构，所述N个结构形成单元，并且有M个所述单元串联连接，使得通过所述开关的选择性操作得到的可能测量的数量等于2^N×M。

11.根据前述权利要求中任意一项或多项所述的装置，其特征在于，促进电测量包括促进处于电组合形式的所述多个结构中的所述至少两个结构的输出频谱的电测量，测量电输出值如何随着不同的电输入值而不同。

12.根据前述权利要求中任意一项或多项所述的装置，其特征在于，

所述装置被布置为执行所述测量，或

所述装置连接或可连接到能够执行所述测量的另一装置。

13.根据前述权利要求中任意一项或多项所述的装置，其特征在，所述装置被布置为，可选地在涉及结构的质询之后，促进所述结构在物理上的更改，以改变所述结构在随后受到质询时提供的响应。