[发明专利]含有半导体纳米粒子的分散液及薄膜有效
申请号: | 201780060467.7 | 申请日: | 2017-09-22 |
公开(公告)号: | CN109790029B | 公开(公告)日: | 2022-04-29 |
发明(设计)人: | 佐佐木勉;小野雅司 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | C01B25/08 | 分类号: | C01B25/08;B82Y20/00;B82Y30/00;B82Y40/00;C01G15/00;C09K11/08;C09K11/70;H01L29/06 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 薛海蛟 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 含有 半导体 纳米 粒子 分散 薄膜 | ||
1.一种含有半导体纳米粒子的分散液,其含有通过X射线光电子能谱分析检测出锌、硫及铟的半导体纳米粒子及丙烯酸酯或甲基丙烯酸酯,所述半导体纳米粒子为核壳粒子,
所述半导体纳米粒子中,从X射线光电子能谱分析求出的、锌与铟的摩尔比满足下述式(1a):
2.25<Zn/In<9……(1a)
所述半导体纳米粒子中,从X射线光电子能谱分析求出的、硫与铟的摩尔比满足下述式(2a):
1.25<S/In<10.6……(2a)。
2.根据权利要求1所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
在由X射线小角度散射引起的散射强度中,q值=0.2nm-1的切线的斜率为-3~0。
3.根据权利要求1或2所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
所述半导体纳米粒子中,从X射线光电子能谱分析求出的、锌与铟的摩尔比满足下述式(1b),硫与铟的摩尔比满足下述式(2b),
在由X射线小角度散射引起的散射强度中,q值=0.2nm-1的切线的斜率为-2~0,
2.4<Zn/In≤7.9……(1b);
3.4<S/In≤7.5……(2b)。
4.根据权利要求1或2所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
所述半导体纳米粒子的平均粒径为6nm以下。
5.根据权利要求4所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
所述半导体纳米粒子的平均粒径为3nm以上且5nm以下。
6.根据权利要求1或2所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
所述半导体纳米粒子具有含有III族元素及V族元素的核、覆盖所述核表面的至少一部分的第1壳及覆盖所述第1壳的至少一部分的第2壳。
7.根据权利要求6所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
所述核中所含的所述III族元素为In,所述核中所含的所述V族元素为P、N及As中的任意种。
8.根据权利要求7所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
所述核中所含的所述III族元素为In,所述核中所含的所述V族元素为P。
9.根据权利要求6所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
所述核还含有II族元素。
10.根据权利要求9所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
所述核中所含的所述II族元素为Zn。
11.根据权利要求6所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
所述第1壳包含II族元素或III族元素,
其中,所述第1壳包含III族元素的情况下,所述第1壳中所含的III族元素为与所述核中所含的III族元素不同的III族元素。
12.根据权利要求6所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
所述第1壳为含有II族元素及V[族元素的II-VI族半导体或含有[II族元素及V族元素的III-V族半导体,
其中,所述第1壳为所述III-V族半导体的情况下,所述III-V族半导体中所含的III族元素为与所述核中所含的III族元素不同的III族元素。
13.根据权利要求12所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,
所述第1壳为所述II-VI族半导体的情况下,所述II族元素为Zn,所述VI族元素为Se或S,
所述第1壳为所述III-V族半导体的情况下,所述III族元素为Ga,所述V族元素为P。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片株式会社,未经富士胶片株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780060467.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于移除半导体基材上残余物的清洁制剂
- 下一篇:碳纳米管集合体