[发明专利]含有半导体纳米粒子的分散液及薄膜有效

专利信息
申请号: 201780060467.7 申请日: 2017-09-22
公开(公告)号: CN109790029B 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 佐佐木勉;小野雅司 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: C01B25/08 分类号: C01B25/08;B82Y20/00;B82Y30/00;B82Y40/00;C01G15/00;C09K11/08;C09K11/70;H01L29/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 薛海蛟
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 含有 半导体 纳米 粒子 分散 薄膜
【权利要求书】:

1.一种含有半导体纳米粒子的分散液,其含有通过X射线光电子能谱分析检测出锌、硫及铟的半导体纳米粒子及丙烯酸酯或甲基丙烯酸酯,所述半导体纳米粒子为核壳粒子,

所述半导体纳米粒子中,从X射线光电子能谱分析求出的、锌与铟的摩尔比满足下述式(1a):

2.25<Zn/In<9……(1a)

所述半导体纳米粒子中,从X射线光电子能谱分析求出的、硫与铟的摩尔比满足下述式(2a):

1.25<S/In<10.6……(2a)。

2.根据权利要求1所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

在由X射线小角度散射引起的散射强度中,q值=0.2nm-1的切线的斜率为-3~0。

3.根据权利要求1或2所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

所述半导体纳米粒子中,从X射线光电子能谱分析求出的、锌与铟的摩尔比满足下述式(1b),硫与铟的摩尔比满足下述式(2b),

在由X射线小角度散射引起的散射强度中,q值=0.2nm-1的切线的斜率为-2~0,

2.4<Zn/In≤7.9……(1b);

3.4<S/In≤7.5……(2b)。

4.根据权利要求1或2所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

所述半导体纳米粒子的平均粒径为6nm以下。

5.根据权利要求4所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

所述半导体纳米粒子的平均粒径为3nm以上且5nm以下。

6.根据权利要求1或2所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

所述半导体纳米粒子具有含有III族元素及V族元素的核、覆盖所述核表面的至少一部分的第1壳及覆盖所述第1壳的至少一部分的第2壳。

7.根据权利要求6所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

所述核中所含的所述III族元素为In,所述核中所含的所述V族元素为P、N及As中的任意种。

8.根据权利要求7所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

所述核中所含的所述III族元素为In,所述核中所含的所述V族元素为P。

9.根据权利要求6所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

所述核还含有II族元素。

10.根据权利要求9所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

所述核中所含的所述II族元素为Zn。

11.根据权利要求6所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

所述第1壳包含II族元素或III族元素,

其中,所述第1壳包含III族元素的情况下,所述第1壳中所含的III族元素为与所述核中所含的III族元素不同的III族元素。

12.根据权利要求6所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

所述第1壳为含有II族元素及V[族元素的II-VI族半导体或含有[II族元素及V族元素的III-V族半导体,

其中,所述第1壳为所述III-V族半导体的情况下,所述III-V族半导体中所含的III族元素为与所述核中所含的III族元素不同的III族元素。

13.根据权利要求12所述的含有半导体纳米粒子的分散液,其中,

所述第1壳为所述II-VI族半导体的情况下,所述II族元素为Zn,所述VI族元素为Se或S,

所述第1壳为所述III-V族半导体的情况下,所述III族元素为Ga,所述V族元素为P。

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