[发明专利]具有多个偏移的干涉仪

权利要求书

1.一种用于获取和处理利用第一偏移测量的样本的第一总图像的设备，其特征在于，所述设备具有用于利用至少一个不同于所述第一偏移的偏移来产生至少一个另外的总图像的装置，其中所述设备具有用于第一成像模式的第一成像光路和用于第二成像模式的第二成像光路，其中所述第一成像模式利用具有在第一方向上的剪切的光束分离产生图像，并且所述第二成像模式利用具有在第二方向上的剪切的光束分离产生图像。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备是干涉仪。

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备用于数字全息显微镜(1)中。

4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述样本是生物和/或医学样本。

5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，不同成像模式的信息部分在相应的总图像中叠加。

6.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，两个路径至少部分地叠加，并且能够在计算装置中处理总图像的数据并且能够将所述总图像的数据存储在存储装置中。

7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述第一成像光路和所述第二成像光路至少部分地叠加并且能够在计算装置中处理总图像的数据。

8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述总图像的数据能够存储在存储装置中。

9.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述第一成像模式是借助于干涉仪产生的，并且所述第二成像模式是借助于显微镜产生的。

10.根据权利要求9所述的设备，其特征在于，利用振幅光栅和/或相位光栅实现用于所述成像模式的光束分离。

11.根据权利要求10所述的设备，其特征在于，使用双折射光学元件进行光束分离。

12.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，用于产生至少一个另外的总图像的装置具有双折射光学元件。

13.根据权利要求12所述的设备，其特征在于，所述用于产生至少一个另外的总图像的装置是双折射板(13)。

14.根据权利要求13所述的设备，其特征在于，所述双折射板具有方解石。

15.根据权利要求13所述的设备，其特征在于，所述双折射板(13)设计成平面平行的或楔形的。

16.根据权利要求13所述的设备，其特征在于，所述双折射板(13)位于所述第二成像光路中。

17.根据权利要求16所述的设备，其特征在于，所述双折射板(13)在所述第二成像光路中被定位朝向和/或远离偏移镜(10)。

18.根据权利要求12所述的设备，其特征在于，所述用于产生至少一个另外的总图像的装置是偏移镜(10)上的双折射材料层(15)。

19.根据权利要求18所述的设备，其特征在于，所述双折射材料层(15)设计为平面平行的或楔形的。

20.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备以迈克尔逊构造类型或马赫-曾德尔构造类型来实现。

21.根据权利要求20所述的设备，其特征在于，所述设备是数字全息显微镜(1)。